• 정보처리학회논문지D
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• 제15D권3호
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• pp.313-320
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• 2008

전형적인 소프트웨어 생명주기 모델은 결점이 추가되거나 제거되는 단계들의 일련의 순서로 구성되어 있다. 우리가 원하는 수준의 품질을 달성하기 위해서는 소프트웨어 개발 전 과정에서 결점 제거를 수행하여야 한다. 잘 알려진 단계기반 결점 프로파일은 Gaffney 모델이 있다. 이 모델은 결점 제거 프로파일이 Rayleigh 분포를 따르며 단계 인덱스 번호를 모수로 하고 있다. 실제 개발되는 소프트웨어에 Gaffney 모델을 적용시 제거된 결점이 최대값이 되는 점을 위치 모수가 표현하지 못하는 문제가 있다. 그러므로 Gaffney 모델은 실제 결점 프로파일을 표현하지 못한다. 본 논문은 2개의 다른 모델을 제시한다. 하나는 수정된 Gaffney 모델로 위치 모수를 교체하기 위해 Putnam의 SLIM 모델의 모수를 도입하였다. 다른 하나는 누적 결점 프로파일이 S자 형태를 보여 성장곡선 모델을 제시하였다. 제안된 모델은 5개의 다른 소프트웨어 프로젝트로부터 얻어진 결점 프로파일 분석에 의해 검증하였다. 실험 결과 제안된 모델이 Gaffney 모델 보다 좋은 결과를 얻었다.