• 한국전자현미경학회:학술대회논문집
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• 2001.05a
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• pp.73-75
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• 2001

• 한국전자현미경학회:학술대회논문집
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• 1993.06a
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• pp.26-26
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• 1993

• Journal of Korean Institute of Fire Investigation
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• v.4 no.1
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• pp.9-27
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• 2004

• Proceedings of the International Microelectronics And Packaging Society Conference
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• 2002.11a
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• pp.97-99
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• 2002

유리내부에 수십나노크기의 Ag 금속입자를 생성시키기 위한 연구를 진행하였다. 본 연구에서는 규산염계 유리에 Ag와 Ce을 첨가하여 환원분위기에서 유리를 제조함으로서 Ce$^{3+}$ 를 유리내에 생성시킬 수 있었으며, 또한 레이저조사(irradiation)를 통하여 Ag+이온의 금속입자 환원을 도울 수 있었다. 또한 레이저 조사시간에 따른 금속입자의 변화를 관찰하고자 하였으며, 이와 같은 과정으로 생성된 금속입자함유 유리를 열처리함으로서 나타나는 열적특성을 평가하여 금속입자가 결정화과정에 미치는 영향을 평가하고자 하였다. 유리내에 존재하는 나노금속입자를 투과전자현미경 (TEM)을 통하여 확인하였으며, 시차주사열량분석법(DSC)을 통해 유리의 결정화거동을 평가하였다. 또한 Photo Luminescence 측정을 통한 유리내부의 Ce이온의 전자상태를 관찰하였다.

• Proceedings of the KIEE Conference
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• 2006.05a
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• pp.60-62
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• 2006

전원 코드에서의 전기재해는 외부의 기계적피로에 의해 피복이나 피복 내부의 도체가 손상되어 이루어지는 경우가 많다. 특히, 전기청소기, 모발건조기 등 이동용 전기제품에서 잦은 반복 스트레스로 인해 전원 코드에서 반단선에 의한 전기화재가 발생한다. 본 연구에서는 전원 코드에 반복 스트레스를 받았을 때 전선의 소선이 손상되는 과정을 X-ray를 이용하여 소손 패턴을 분석하였으며, 반단선에 의한 불꽃 발생과정을 초고속 카메라로 촬영하였다. 또한 소손된 전원 코드를 실체 현미경 및 금속현미경을 이용하여 전선피복과 도체에 나타나는 특징을 분석하였다. 이러한 연구를 통하여 전원코드의 반복 피로에 의한 화재발생 메커니즘과 화재원인 분석에 유용한 자료가 될 것으로 기대된다.

• Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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• 2011.02a
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• pp.492-492
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• 2011

단일벽 탄소나노튜브(Single-Walled Carbon Nanotubes, SWCNTs)는 매우 우수한 전기적, 광전자적 특성을 가지고 있어 차세대 나노 전자소자 물질로 각광받고 있다. 특히, 이들의 전기적 특성은 직경과 카이랄리티(chirality)에 따라 금속성(metallic)과 반도체성(semiconducting)으로 구분된다. 각 특성에 따라 금속성은 투명전극, 반도체성은 전계효과 트랜지스터(CNT-FET)로 활용가능성이 높다. 하지만, 일반적으로 단일벽 탄소나노튜브는 이 두 가지의 특성이 혼재되어 합성되기 때문에, 그들의 선택적 분리는 나노튜브 기반 전자소자 응용을 위해 매우 중요한 과정 중 하나이다. 최근에는 반응 가스를 이용한 선택적 제거, 밀도차를 이용한 원심분리법(density gradient ultracentrifugation) 등 다양한 방법들이 보고된 바 있다. 본 연구는 대기 중에서 마이크로웨이브 조사하여 금속성 나노튜브만을 선택적으로 제거하였다. 마이크로웨이브 조사는 CVD 방법과 전기 방전법으로 성장된 단일벽 탄소나노튜브에 800W로 조사 시간을 변화하며 수행하였다. 실험 결과, 조사 시간이 증가할수록 두 종류의 나노튜브에서 반도체성 나노튜브는 남아있는 반면 금속성 나노튜브는 점차 제거되었다. 이러한 원인은 각 전기적 특성에 따른 유전상수 차이에 의하여 기인한 것이다. 전기적 특성과 결정성은 라만 분광법(Raman spectroscopy)을 통하여 분석하였으며, 직경 및 분산정도는 주사전자현미경(scanning electron microscope), 투과전자현미경(tunneling electron microscope)으로 관찰하였다.

• Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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• 2007.11a
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• pp.483-484
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• 2007

• Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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• 2009.06a
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• pp.419-420
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• 2009

• Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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• 2015.08a
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• pp.94.2-94.2
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• 2015

주사전자현미경은 나노 크기의 재료 및 바이오 물질의 이미지를 관찰하는 가장 일반적인 분석 장비이다. 주사전자현미경을 이용한 시료 관찰은 주로 10-5 Torr 이하의 고진공에서 이루어진다. 부도체 재료는 전자빔에 의해 대전(charging)이 발생하여 이미지가 왜곡되며, 이를 방지하기 위해 금 등의 금속을 코팅한다. 한편 10-1 Torr 이상 압력의 저진공에서는 부도체 재료도 charging이 발생하지 않아 생물시료등의 부도체 표면을 코팅없이 관찰할 수 있다. 본 발표에서는 현재 개발중인 저진공 관찰 주사전자현미경의 차동배기구조를 보여준다. 또한 차동배기에 의해 가동 압력 10-1 Torr 이상의 시료실과 10-5 Torr이하의 전자총실의 진공 배기특성을 보고하며, 저진공에서의 주사전자현미경 이미지를 보여준다.

• Applied Microscopy
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• v.4 no.1
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• pp.1-4
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• 1974

Variations of camera constant due to the change of the lens current were examined for Hitachi HU-125C electron microscope. It was shown that the variation in specimen height had a marked effect on the change of camera constant. Also the rotation of the image from the diffraction pattern was determined by using a test crystal. Suggestions were given for improving practical operation of electron microscope in the work of thin foils.