• Title/Summary/Keyword: 국부결함

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Local Histogram Equalization using Illumination Information (광원 정보를 이용한 지역 히스토그램 평활화 방법)

  • Kang, Hee;Song, Ki Sun;Kang, Moon Gi
    • Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers
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    • v.51 no.11
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    • pp.155-164
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    • 2014
  • Local histogram equalization is one of the most popular ways of enhancing the local brightness features of an input image. However, local histogram equalization reveals some problems. First, undesired artifacts are produced by over-enhancing the local features. Second, the enhancement of local features does not always result in global contrast enhancement. To cope with these problems, we propose an illumination driven local histogram equalization method. First, to estimate the illumination information, the proposed method combines the input image and the blurred image produced through the process of the down-sampling and the up-sampling. Next, the proposed method adaptively adjusts the mapping function estimated by the local histogram equalization using the information of the illumination. As a result, the proposed illumination information driven local histogram equalization method simultaneously enhances the global and the local contrast levels while preventing any local artifacts. Experimental results show that the proposed algorithm outperforms the conventional methods on objective and subjective criteria.

Evaluation of Surface Crack and Blind Crack by Induced Current Focusing Potential Drop(ICFPD) Technique (집중유도형 교류전위차법에 의한 표면결함 및 이면결함의 평가에 관한 연구)

  • Kim, Hoon
    • Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing
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    • v.16 no.2
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    • pp.86-94
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    • 1996
  • In the life management safety evaluation of constructs base on a fracture mechanics, the size of defect is the very important parameter. ICFPD (Induced Current Focusing Potential Drop)technique has been developed for detecting and sizing of defects that exist not only on surface but also inside and interior of structural components. The principle of this technique is to induce a focusing current at an exploration region by a straight induction wire through which an alternating current (AC)flows that has constant amplitude and frequency. The potential distributed on the surface of metallic material is measured by potential pick-up pins that are settled on the probe. In this paper, this NDI technique was applied to the evaluation of surface cracks and blind cracks in plate specimens. The results of this study show that in the case of surface crack, the distribution of potential drop is varied with the inched angle of surface crack, and the potential drops in the crack region and the crack edge region are varied with the inclined angle and depth of crack. The distribution of potential drop for the blind crack is distingulished from that for the surface crack, and the potential drop in the crack region is varied with the depth of crack.

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국부적 후면 접촉 구조를 가지는 실리콘 태양전지의 Passivation 특성과 태양전지 특성에 관한 연구

  • An, Si-Hyeon;Park, Cheol-Min;Jang, Gyeong-Su;Kim, Seon-Bo;Jang, Ju-Yeon;Park, Hyeong-Sik;Song, Gyu-Wan;Choe, U-Jin;Choe, Jae-U;Lee, Jun-Sin
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2012.02a
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    • pp.602-602
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    • 2012
  • TCAD simulation을 이용하여 국부적 후면 접촉 구조를 가지는 단결정 실리콘 태양전지구조를 형성하고 실리콘 기판과 후면 passivation막 사이의 계면 특성 변화에 따른 태양전지의 전기적, 광학적 특성 변화에 대해서 연구하였다. 상기 연구를 진행하기 위하여 process simulator를 이용하여 후면에 국부적인 doped BSF region을 형성하고 device simulator를 이용하여 실리콘 기판과 후면 passivation막 사이의 carrier recombination 특성을 변화시켜 태양전지의 광학적, 전기적 특성을 분석하였다. Carrier recombination velocity의 감소에 따라 국부적 후면 접촉구조를 갖는 태양전지의 특성이 증가하는 것으로 관찰되었다. 이는 후면에서 실리콘과 박막 사잉의 결함이나, dangling bond에 의해서 carrier들이 재결합하는 확률이 줄어듦과 동시에, 후면 전극에서 carrier를 수집할 수 있는 확률이 커지기 때문이며, 800 nm 이상의 장파장영역 광원이 후면 passivation 박막에 의한 reflection으로 이차적인 carrier generation으로 인한 영향으로 판단되며 quantum efficiency 분석으로 규명하였다.

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Detection of localized defects in ball bearing using phase spectrum (위상스펙트럼을 이용한 볼베어링의 국부결함 검출)

  • Yoon, J.H.;Lee, J.M.
    • Journal of the Korean Society for Precision Engineering
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    • v.13 no.3
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    • pp.63-69
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    • 1996
  • Recently, vibrational signal processing as a tool of machinery diagnosis has been actively studying. In this study, a new scheme for detection and diagnosis of localized defects in ball bearings, using unwrapped phase spectrum of FFT is described. The characteristic phase spectra for such defects shows linearly varying patterns due to the repetitive impact signals generated by localized defects, i.e., one linear line for single defect and various linearly changing shape according to angle between the two defect located points. The effectiveness of this method is confirmed by computer simulation and experiments on bearing with single or double defects at different locations.

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The Effect of Functional Group of Levelers on Through-Silicon-Via filling Performance in Copper Electroplating (구리 전해도금을 이용한 실리콘 관통전극 충전 성능에 대한 평탄제 작용기의 영향)

  • Jin, Sang-Hun;Kim, Seong-Min;Jo, Yu-Geun;Lee, Un-Yeong;Lee, Min-Hyeong
    • Proceedings of the Korean Institute of Surface Engineering Conference
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    • 2018.06a
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    • pp.80-80
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    • 2018
  • 실리콘 관통전극 (Through Silicon Via, TSV)는 메모리 칩을 적층하여 고밀도의 집적회로를 구현하는 기술로, 기존의 와이어 본딩 (Wire bonding) 기술보다 낮은 소비전력과 빠른 속도가 특징인 3차원 집적기술 중 하나이다. TSV는 일반적으로 도금 공정을 통하여 충전되는데, 고종횡비의 TSV에 결함 없이 구리를 충전하기 위해서 3종의 유기첨가제(억제제, 가속제, 평탄제)가 도금액에 첨가되어야 한다. 이러한 첨가제 중 결함 발생유무에 가장 큰 영향을 주는 첨가제는 평탄제이기 때문에, 본 연구에서는 이미다졸(imidazole) 계열, 이민(imine) 계열, 디아조늄(diazonium) 계열 및 피롤리돈(pyrrolidone) 계열과 같은 평탄제(leveler)의 작용기에 따라 TSV 충전 성능을 조사하였다. TSV 충전 시 관능기의 거동을 규명하기 위해 QCM (quartz crystal microbalance) 및 EQCM (electrochemical QCM)을 사용하여 흡착 정도를 측정하였다. 실험 결과, 디아조늄 계열의 평탄제는 TSV를 결함 없이 충전하였지만 다른 작용기를 갖는 평탄제는 TSV 내 결함이 발생하였다. QCM 분석에서 디아조늄 계열의 평탄제는 낮은 흡착률을 보이지만 EQCM 분석에서는 높은 흡착률을 나타내었다. 즉, 디아조늄 계열의 평탄제는 전기 도금 동안 전류밀도가 집중되는 TSV의 상부 모서리에서 국부적인 흡착을 선호하며 이로 인하여 무결함 충전이 달성된다고 추론할 수 있다.

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A machine-vision based inspection system for non-transparent and high-reflectance substrate (머신 비전을 이용한 불투명/고반사율 기판 검사 시스템)

  • Yeo, Kyeong-Min;Seo, Jung-Woo;Lee, Suk-Won;Yi, June-Ho
    • Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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    • 2010.04a
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    • pp.369-372
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    • 2010
  • 평판 디스플레이(flat panel display)의 크기가 커짐에 따라 다양한 기판을 이용한 제조 방법이 개발되고 있다. 디스플레이 제조 공정 중 기판의 결함을 찾아서 분류하는 검사 시스템은 최종 제품의 품질을 결정하는 매우 중요한 부분이다. 본 연구는 머신비전 기술을 이용하여 불투명하고 반사율이 높은 기판 표면의 결함을 찾아내고, 이 결함을 스크래치(scratch), 흑결함(dark defect), 백결함(white defect)으로 분류하는 장치를 구현하는데 목적이 있다. 이를 구현하기 위해 본 논문에서는 정밀 스테이지(stage)와 라인 카메라(line CCD camera)을 이용한 광학계를 활용하여 검사 시스템을 구현하였다. 구축된 시스템을 이용하여 취득한 이미지를 12 개의 영역으로 등분하여 각각의 국부 영역에 대한 문턱값 연산(thresholding)을 적용함으로써 조명의 불균일을 의한 검출 에러율을 획기적으로 낮추었다. 간단한 컴퓨터비전 알고리듬의 채용으로도 검사 시스템의 구현이 가능함을 보였다.

Local Buckling Behaviors of Flat-Type Stiffeners in Stiffened Plate System (보강판시스템에 적용되는 판형보강재의 국부좌굴거동)

  • Kim, Kyung-Sik
    • Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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    • v.14 no.12
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    • pp.6521-6526
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    • 2013
  • Elastic and nonlinear ultimate strength analyses were conducted to examine the effects of the stiffness and slenderness of flat-type stiffeners on ultimate in-plane strengths of a stiffened plate system. Although it is not feasible to consider local buckling in the stiffeners in elastic analysis, it was confirmed that the in-plane strengths of the stiffened plate system can be achieved by antisymmetric buckling mode when a certain level of stiffness in the stiffeners is provided. Nonlinear ultimate strength analysis, in which initial imperfection and residual stress are incorporated, showed that the ultimate strengths are sensitively affected by the mode shapes for initial imperfections. The slenderness limit for flat-type stiffeners in KHBDC (Korean Highway Bridge Design Code) was evaluated as conservative compared to the analysis results.

Development of Local Failure Criteria for Well Thinning Defect by Simulated Specimen Tests (모사시편 시험을 통한 감육결함 국부손상기준 개발)

  • Kim, Jin-Weon;Kim, Do-Hyung;Park, Chi-Yong;Lee, Sung-Ho
    • Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers A
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    • v.31 no.3 s.258
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    • pp.304-312
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    • 2007
  • The objective of this study is to develop a local failure criterion for a wall thinning defect of piping components. For this purpose, a series of tensile tests was performed using several types of simulated specimens with different stress states, including smooth round bar, notched round bar (five different notch radii), and grooved plate (three different groove radii). In addition, finite element (FE) simulations were performed on the simulated specimen tests and the results were compared with the test results. From the comparisons, the equivalent stress and strain corresponding to maximum load and final failure of notched specimens were proposed as failure criteria under tensile load. The criteria were verified by employing them to the estimation of failure of grooved plate specimens that simulate the wall thinning defect. It showed that the proposed criteria accurately estimate the maximum load and final failure of grooved plate specimen tests.

Study on the Spatter in Stainless Steel Welding (스테인레스강 용접의 스팻터에 관한 연구)

  • 이성근;서성필
    • Journal of Welding and Joining
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    • v.2 no.2
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    • pp.13-21
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    • 1984
  • Chemical tanker의 Crago tank는 화학제품에 대한 내식성, 내산성 등이 요구되는 재료로서 스테인레스강이나, 스테인레스 클래드강이 주로 사용되고 있다. 이러한 스테인레스강을 사용한다 하더라도 사용시 국부적인 결함 및 부식의 문제점이 발생되고 있다. 특히 스테인레스 클래드강을 사용했을 경우 부식 및 기타 요인에 의해 결함이 발생했을 때, 클래드재(앞대기재)의 두께가 약 2.5mm 정도에 불과하므로 보수작업이 어려우며, 보수작업에 의한 산화피막의 파괴는 부식을 촉진시킨다. 이들 결함 및 부식 발생의 여러요인 중 특히 용접 시공상의 문제점이 가장 크게 영향을 미친다. 또한 용접 시공상의 문제점 중 스팻터를 제거하기 위해서는 많은 공수가 소모될 뿐 아니라 품질면에서도 나쁜 영향을 주고 있다. 본 고에서는 스팻터 생성기구의 검토와 스팻터가 모제에 미치는 영향을 다루고자 한다. 또한 용접조건 및 용접재료의 변화에 의한 스팻터 생성량 변화, 입도에 따른 비행거리 등을 검토하는데 목적을 두었다.

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NDT of a Nickel Coated Inconel Specimen Using by the Complex Induced Current - Magnetic Flux Leakage Method and Linearly Integrated Hall Sensor Array (복합 유도전류-누설자속법과 고밀도 홀센서배열에 의한 니켈 코팅 인코넬 시험편의 비파괴검사)

  • Jun, Jong-Woo;Lee, Jin-Yi;Park, Duk-Keun
    • Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing
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    • v.27 no.5
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    • pp.375-382
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    • 2007
  • Nondestructive testing (NDT) by using the electromagnetic methods are useful for detecting cracks on the surface and subsurface of the metal. However, when the material contains both ferromagnetic and paramagnetic materials, it is difficult for NDT to detect and analyze cracks using this method. In addition the existence of a partial ferromagnetic material can be incorrectly characterized as a crack in the several cases. On the other hand a large crack has sometimes been misunderstood as a partially magnetized region. Inconel 600 is an important material in atomic energy plant. A nickel film is coated when a crack a appears on an Inconel substrate. Cracks are difficult to detect on the combined material of an Inconel substrate with a nickel film, which are paramagnetic and ferromagnetic material respectively. In this paper, a scan type magnetic camera, which uses a complex induced current-magnetic flux leakage (CIC-MFL) method as a magnetic source and a linearly integrated Hall sensor array (LIHaS) on a wafer as the magnetic sensors, was examined for its ability to detect cracks on the combined material. The evaluation probability of a crack is discussed. In addition the detection probability of the minimum depth was reported.