변형량이 걸린 반도체 이종 접합 구조에서의 성장 방식 변화에 대한 투과 전자 현미경 연구 방법 (Investigation method of the growth mode transition in a strained semiconductor heterostructure by transmission electron microscopy)
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- 한국전자현미경학회:학술대회논문집
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- 한국현미경학회 1999년도 제30차 추계학술대회
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- pp.54-58
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- 1999