• Title/Summary/Keyword: 광학두께

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Estimation of nighttime aerosol optical thickness from Suomi-NPP DNB observations over small cities in Korea (Suomi-NPP위성 DNB관측을 이용한 우리나라 소도시에서의 야간 에어로졸 광학두께 추정)

  • Choo, Gyo-Hwang;Jeong, Myeong-Jae
    • Korean Journal of Remote Sensing
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    • v.32 no.2
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    • pp.73-86
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    • 2016
  • In this study, an algorithm to estimate Aerosol Optical Thickness (AOT) over small cities during nighttime has been developed by using the radiance from artificial light sources in small cities measured from Visible Infrared Imaging Radiometer Suite (VIIRS) sensor's Day/Night Band (DNB) aboard the Suomi-National Polar Partnership (Suomi-NPP) satellite. The algorithm is based on Beer's extinction law with the light sources from the artificial lights over small cities. AOT is retrieved for cloud-free pixels over individual cities, and cloud-screening was conducted by using the measurements from M-bands of VIIRS at infrared wavelengths. The retrieved nighttime AOT is compared with the aerosol products from MODerate resolution Imaging Spectroradiometer (MODIS) aboard Terra and Aqua satellites. As a result, the correlation coefficients over individual cities range from around 0.6 and 0.7 between the retrieved nighttime AOT and MODIS AOT with Root-Mean-Squared Difference (RMSD) ranged from 0.14 to 0.18. In addition, sensitivity tests were conducted for the factors affecting the nighttime AOT to estimate the range of uncertainty in the nighttime AOT retrievals. The results of this study indicate that it is promising to infer AOT using the DNB measaurements over small cities in Korea at night. After further development and refinement in the future, the developed retrieval algorithm is expected to produce nighttime aerosol information which is not operationally available over Korea.

Design of Magneto-Optic Spatial Light Modulator Based on One-Dimensional Magneto-Photonic Crystal (1차원 자성 포토닉 결정을 이용한 자기 광학 공간 광 변조기의 설계)

  • 이종백;박재혁;조재경
    • Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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    • 2000.08a
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    • pp.190-191
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    • 2000
  • 종래의 자기광학 디바이스는 자성체막을 빛이 투과할 때 얻어지는 페러데이 회전각을 이용했기 때문에, 페러데이 회전각을 증가시켜서, 광학적 성능을 증가시키려면 자성체막의 두께를 증가시켜야만 했다. 그러나, 자성체막의 두께를 증가시키면, 화소를 자기적으로 분리하기 위하여 자성체 막을 물리적으로 제거 해야하여 깊이가 깊어지고 그 후에 도선막을 구조화하기 위하여 파낸 화소간 갭을 다시 평탄화해야 하는 등의 제조 공정이 기술적으로 매우 어려워진다는 문제점을 가지고 있었다. 또한, 자성체 막의 두께가 증가하면, 도선막에 전류를 흘려 발생하는 자장은 도선막으로부터의 거리의 제곱에 반비례하므로, 두꺼운 자성체 막 전체에 강한 자장을 인가하기 위해서는, 도선막에 흘리는 전류를 증가시켜야만 한다는 문제점을 안고 있었다. (중략)

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선형 대향 타겟 스퍼터를 이용하여 성막한 Al-Ga-Zn-O 다성분계 박막의 두께에 따른 특성 연구

  • Seo, Gi-Won;Sin, Hyeon-Su;Lee, Ju-Hyeon;Jeong, Gwon-Beom;Kim, Han-Gi
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2013.02a
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    • pp.328-328
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    • 2013
  • 본 연구에서는 선형 대향 타겟 스퍼터 시스템을 이용하여 Hetero sputtering 방법으로 증착한 AlGaZnO (AGZO) 박막의 두께에 따른 특성을 연구하였다. DC Power 250 W, Working pressure 0.3 mTorr, Ar 20 sccm의 고정된 성막 조건하에서, AGZO 박막의 두께가 25 nm에서 1 um로 증가함에 따른 전기적, 광학적, 구조적, 표면 특성을 Hall measurement, UV/visible spectrometry, Ellipsometry, XRD, FESEM 분석을 통해 분석하고 이를 설명할 수 있는 메커니즘을 제시하였다. 선형 대향 타겟 스퍼터의 장점으로 인해 상온에서도 우수한 특성을 갖는 AGZO 박막을 성장 시킬 수 있었으며 AGZO 박막의 전기적, 광학적특성은 다른 산화물 투명 전극 박막과 마찬가지로 두께에 매우 큰 영향을 받는 것을 알 수 있었다. 이러한 두께에 따른 특성 변화는 상온에서도 Columnar 구조를 가지는 AGZO의 구조적 특성과 밀접한 연관이 있으며 특히 결정립 크기가 AGZO의 광학적, 전기적 특성에 큰 영향을 미침을 XRD 분석을 통해 확인하였다. 또한 AGZO 두께에 따른 결정성의 차이가 박막의 n값에도 영향을 미침을 엘립소미터 분석을 통해 확인할 수 있었다. Scherrer formula을 활용하여 계산한 결과 AGZO 박막의 두께 증가에 따라 결정성 향상 및 결정립의 크기가 증가함을 알 수 있었으며, 이는 FESEM 분석을 통해서도 확인할 수 있었다.

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CdTe/ZnTe 다층 양자점의 결합에 따른 광학적 특성

  • Im, Gi-Hong;Kim, Beom-Jin;Jin, Seong-Hwan;Choe, Jin-Cheol;Lee, Hong-Seok
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2016.02a
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    • pp.277.2-277.2
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    • 2016
  • 현재 화합물 반도체 나노구조는 광학적, 전기적 특성을 기반으로 하는 단전자 트랜지스터, 적외선 검출기, 레이저, 태양전지와 같은 분야에 응용하기 위한 많은 연구가 진행되고 있다. 특히 양자점은 3차원으로 구속되어 있는 상태 밀도를 갖고 있어 레이저 응용 시 낮은 문턱 전류 밀도, 높은 이득, 높은 열적 안정성을 기대되고 있지만 양자점의 운반자 수집과 열적 안정성의 한계가 여전히 존재한다. 이러한 문제를 해결하기 위해 다양한 방법이 연구되고 있으며, 그 중 단층 양자점에 비해 운반자 수집과 열적 안정성이 뛰어난 다층 양자점이 결합된 구조에 대한 연구가 활발히 이루어지고, 다층으로 성장된 양자점 구조는 양자점의 크기 분포 조절이 용이하고 양자점 층간의 전기적 결합력이 강한 특성이 있다. 본 연구에서는 분자 선속 에피 성장법(Molecular Beam Epitaxy; MBE)과 원자 층 교대 성장법(Atomic Layer Epitaxy; ALE)으로 CdTe/ZnTe 다층 양자점을 ZnTe 장벽층의 두께를 변화하면서 성장 후 광학적 특성을 연구하였다. 저온 광루미네센스 측정(Photoluminescence; PL)을 통하여 ZnTe 장벽층 두께가 증가할수록 양자점의 PL 피크가 높은 에너지로 이동함을 알 수 있었는데, 이는 ZnTe 장벽층의 두께가 증가할수록 양자점 층간의 결합력이 감소하면서 양자점의 크기가 작아졌기 때문이다. 그리고 ZnTe 장벽층의 두께가 증가할수록 PL 세기가 커지는 것을 알 수 있었는데, 이는 ZnTe 장벽층의 두께가 증가할수록 더 많은 운반자가 양자점으로 구속되기 때문이다. 또한 온도 의존 광루미네센스 측정 결과 ZnTe 장벽층의 두께가 증가할수록 열적 활성화 에너지가 커지는 것을 관찰하였고, 시분해 광루미네센스 측정을 통해 ZnTe 장벽층의 두께에 따른 운반자 동역학에 대해 연구하였다. 이와 같은 결과 CdTe/ZnTe 다층 양자점 구조에서 장벽층의 두께에 따른 광학적 특성에 대해 이해 할 수 있었다.

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Silicon Fabry-Perot Tunable Filter for WDM Applications (WDM용 실리콘 파브리-페로 파장가변 필터에 관한 연구)

  • 박수연;길상근
    • Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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    • 2003.02a
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    • pp.306-307
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    • 2003
  • 기존의 WDM용 실리콘 파브리-페로 파장 가변 필터의 경우는 E-beam 박막 증착이나 CVD 박막 증착법을 사용하여 두께 제어가 잘 이루어지지 않았고, 제작된 실리콘 파브리-페로 필터의 굴절율을 변화시키기 위한 패턴이 고가의 백금(Pt)으로 이루어졌다. 이에 수 nm로 박막 두께를 제어해보고, 고가의 백금이 아닌 저가의 물질을 이용하여 온도제어를 이루어 보고자 하였다. (중략)

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Determination of optical constants and thickness of organic electroluminescence thin films using variable angle spectroscopic ellipsometry (가변입사각 분광타원 법을 이용한 유기 발광 박막의 광학상수 및 두께 결정)

  • 김상열;류장위;김동현;정혜인
    • Korean Journal of Optics and Photonics
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    • v.12 no.6
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    • pp.472-478
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    • 2001
  • We determined the optical constants and thickness of organic electroluminescence thin films using variable angle spectroscopic ellipsometry. Using the measured transmittance spectra and the spectroscopic ellipsomeoy data of the organic films on glass substrates in the optically transparent region, we determined the effective thickness and the refractive indices of organic thin films. Then by applying a numerical inversion method to variable angle spectro-ellipsometry data, we determined the complex refractive index at each wavelength including the optically absorbing region, as well as the thickness and surface micro-roughness of the organic thin films. The calculated transmittance spectra showed a tight agreement with the measured ones, confining the validity of the present model analysis.

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Identifying Yellow Sand from the Ocean Color Sensor SeaWIFS Measurements (해색 센서 SeaWiFS 관측을 이용한 황사 판독)

  • 손병주;황석규
    • Korean Journal of Remote Sensing
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    • v.14 no.4
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    • pp.366-375
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    • 1998
  • Optical characteristics of the yellow sand and their influences on the ocean color remote sensing has been studied using ocean color sensor SeaWiFS measurements. Two cases of April 18 and April 25, 1998, representing yellow sand and background aerosol, are selected for emphasizing the impact of high aerosol concentration on the ocean color remote sensing. It was shown that NASA's standard atmospheric correction algorithm treats yellow sand area as either too high radiance or cloud area, in which ocean color information is not generated. Optical thickness of yellow sand arrived over the East Asian sea waters in April 18 indicates that there are two groups loaded with relatively homogeneous yellow sand, i.e.: heavy yellow sand area with optical thickness peak around 0.8 and mild area with about 0.4, which are consistent with ground observations. The movement of the yellow sand area obtained from surface weather maps and backward trajectory analysis manifest the notion that the weak yellow sand area was originated from the outer region of the dust storm. It is also noted that high optical thickness associated with the yellow sand is significantly different from what we may observe from background aerosol, which is about 0.2. These characteristics allow us to determine the yellow sand area with an aid of atmospheric correction parameter. Results indicate that the yellow sand area can be determined by applying the features revealed in scattergrams of atmospheric correction parameter and optical thickness.

Determining the Thickness of a Trilayer Thin-Film Structure by Fourier-Transform Analysis (푸리에 변환을 이용한 3층 구조 박막의 두께 측정)

  • Cho, Hyun-Ju;Won, Jun-Yeon;Jeong, Young-Gyu;Woo, Bong-Ju;Yoon, Jun-Ho;Hwangbo, Chang-Kwon
    • Korean Journal of Optics and Photonics
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    • v.27 no.4
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    • pp.143-150
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    • 2016
  • The thickness of each layer in a multilayered system is determined by a Fourier-transform method using spectroscopic reflectance measurements. To verify this method, we first generate theoretical reflectance spectra for three layers, and these are fast-Fourier-transformed using our own Matlab program. Each peak of the Fourier-transformed delta function denotes the optical thickness of each layer, and these are transformed to physical thicknesses. The relative thickness error of the theoretical model is less than 1.0% while a layer's optical thickness is greater than 730 nm. A PI-(thin $SiO_2$)-PImultilayeredstructure produced by the bar-coating method was analyzed, and the thickness errors compared to SEM measurements. Even though this Fourier-transform method requires knowing the film order and the refractive index of each layer prior to analysis, it is a fast and nondestructive method for the analysis of multilayered structures.