We have investigated the effect of the surface roughness of TCO substrate on the characteristics of OLED (organic light emitting diodes) devices. In order to control the surface roughness of ITO thin films, we have processed photolithography and reactive ion etching. The micro-size patterned mask was used, and the etching depth was controlled by changing etching time. The surface morphology of the ITO thin film was observed by FESEM and atomic force microscopy (AFM). And then, organic materials and cathode electrode were sequentially deposited on the ITO thin films. Device structure was ITO/$\alpha$-NPD/DPVB/Alq3/LiF/Al. The DPVB was used as a blue emitting material. The electrical characteristics such as current density vs. voltage and luminescence vs. voltage of OLED devices were measured by using spectrometer (minolta CS-1000A). The current vs. voltage and luminance vs. voltage characteristics were systematically degraded with increasing surface roughness. Furthermore, the retention test clearly presented that the reliability of OLED devices was directly influenced with the surface roughness, which could be interpreted in terms of the concentration of the electric field on the weak and thin organic layers caused by the poor step coverage.
Efficient white organic light-emitting diodes are fabricated with the blue and red electroluminescent (EL) units electrically connected in a stacked tandem structure by using a transparent doped organic p/n junction. The blue and red EL units consist of the light-emitting layer of 1,4-bis(2,2-diphenyl vinyl)benzene (DPVBi) and 4-dicyanomethylene-2-methyl-6-[2-(2,3,6,7-tetrahydro-1H,5H-benzo[i,j] quinolizin-8-yl)vinyl]-4H-pyran) (DCM2) doped tris(8-hydroxyquinoline) aluminum $(Alq_3)$, respectively. The organic p-n junction consists of ${\alpha}-NPD$ doped with $FeCl_3$ (15 % by weight ratio) and $Alq_3$ doped with Li (10 %). The EL spectra exhibit two peaks at 448 and 606 nm, resulting in white light-emission with the Commission Internationale d'Eclairage (CIE) chromaticity coordinates of (0.36, 0.24). The tandem device shows the quantum efficiency of about 2.2 % at a luminance of 100 $cd/m^2$, higher than individual blue and red EL devices.
We have investigated the effect of surface roughness of TCO substrate on the characteristics of OLED (organic light emitting diodes) devices. In order to control the surface roughness of AZO thin films, we have processed photo-lithography and reactive ion etching. The micro-size patterned mask was used, and the etching depth was controlled by changing etching time. The surface morphology of the AZO thin film was observed by FESEM and atomic force microscopy (AFM). And then, organic materials and cathode electrode were sequentially deposited on the AZO thin films. Device structure was AZO/${\alpha}$-NPD/DPVB/$Alq_3$/LiF/Al. The DPVB was used as a blue emitting material. The electrical characteristics such as current density vs. voltage and luminescence vs. voltage of OLED devices were measured by using spectrometer. The current vs. voltage and luminance vs. voltage characteristics were systematically degraded with increasing surface roughness. Furthermore, the retention test clearly presented that the reliability of OLED devices was directly influenced with the surface roughness, which could be interpreted in terms of the concentration of the electric field on the weak and thin organic layers caused by the poor step coverage.
New spiro[fluorene-7,9′-benzofluorene]-based blue host material, 5-phenyl-spiro[fluorene-7,9′-benzofluorene] (BH-1P), was successfully prepared by reacting 5-bromo-spiro[fluorene-7,9′-benzofluorene] (1) with phenyl boronic acid through the Suzuki reaction. 5-(N,N-Diphenyl)amino-spiro[fluorene-7,9′-benzofluorene] (BH-1DPA) and diphenyl-[4-(2-[1,1;4,1]terphenyl-4-yl-vinyl)-phenyl]amine (BD-1) were used as dopant materials. 2,5-Bis-(2',2"- bipyridin-6-yl)-1,1-diphenyl-3,4-diphenylsilacyclopentadiene (ET4) and Alq3 were used as electron transfer materials. Their UV absorption, photoluminescence and thermal properties were examined. The blue OLEDs with the configuration of ITO/DNTPD/$\alpha$-NPD/BH-1P:5% dopant/$Alq_3$ or ET4/LiF-Al prepared from the BH-1P host and BH-1DPA and BD-1 dopants showed a blue EL spectrum at 452 nm at 10 V and a luminance of 923.9 cd/$m^2$ with an efficiency of 1.27 lm/W at a current density of 72.57 mA/$cm^2$.
Recently, high luminance and high efficiency were realized in OLEDs with multilayer structure including emitting materials such as metal-chelate complexes. New luminescent materials, [2- (2-hydroxyphenyl)-quinoline] (Zn(HPB)q), [(1,10-phenanthroline)- (8-hydroxyquinoline)] Zn(Phen)q was synthesized. Zn-Complexes have low molecular compound and thermal stability. The ionization potential(IP) and electron affinity(EA) of Zn-complexes were measured by cyclic-voltammetry(CV). The fundamental structure of the OLEDs was $ITO/{\alpha}$-NPD/Zn-Complex/Al and then we made device structure rightly in energy band gap. We using Zn(Phen)q as emitting layer and Zn(HPB)q as electron transport layer. We measured current density-voltage, luminance-voltage characteristics.
발광층에 Alq3와 rubrene을 mixed host로 사용하고 DCJTB를 형광 dopant로 사용한 다층 박막 구조의 red OLEDs를 제작하였다. 소자의 구조는 $ITO:Anode(120nm)/{\alpha}-NPD:HTL(40nm)/Alq_3+Rubrene(mixed\;host\;1:1)+DCJTB(red\;dopant\;3%)+:EML(20nm)/Alq_3:ETL(40nm)/MgAg(Mg\;5%\;wt):Cathode(150nm)$ 로서 EML내부에 DCJTB를 Totally Doping Method와 Dotted-Line Doping Method의 두 가지 방법으로 도핑 하였다. Mixed host구조에 DCJTB를 6구간으로 나누어 Dotted Line Doping한 소자는 luminance yield가 $9.2cd/A@10mA/cm^2$ 이었다. 이 소자는 DCJTB만을 Totally Doping한 소자의 luminance yield $3.2cd/A@10mA/cm^2$에 비해 약 190%정도의 높은 효율 향상을 보였다. 또한 $10mA/cm^2$에 도달하는 전압은 5.5V Vs. 8.5V로서 mixed host를 사용한 소자에서 약 3V정도 구동전압이 낮아지는 효과가 있었다. 발광 스펙트럼의 Full Width Half Maximum(FWHM)은 각각 56.6nm와 61nm로서 rubrene을 mixed host로 사용한 소자에서 높은 색 순도를 얻을 수 있었다. 이러한 성능의 향상은 $Alq_3$와 혼합된 rubrene에 의한 낮은 전하주 입장벽, 높은 전류밀도에서 나타나는 발광감쇄현상의 감소, 그리고 발광층의 DLD구조에 의한 전하의 trap & confinement 에 따른 발광 exciton의 형성확률이 증가한데서 나타났다고 생각된다.
In this thesis, verifies electrical-optical characteristics of phosphorescent materials. basic structure of fabricating devices is glass/ITO/$\alpha$-NPD($300{\AA}$)/CBP:Guest($300{\AA}$)/BCP($80{\AA}$)/$Alq_3(100{\AA})$/Al($1000{\AA}$). In efficiency, fabrication of organic light emitting diodes using $Ir(btp)_2acac$ phosphorescent material is external quantum efficiency 0.268% as doping concentration 3%. At CIE coordinates, phosphorescent material $Ir(btp)_2acac$ following materials moves high purity red color(x=0.6686, y=0.3243). The brightness shows $285cd/cm^2$.
It was firstly found in 1st group element. Recently, it has been reported on the improvement of efficiency of the OLEDs by introducing thin layer of some carbonate materials of alkali metal. In order to improve the efficiency of OLEDs which is one of the next generation displays, we have studied the electrical characteristics of the device depending on the thickness ratio of the hole-injection layer to the electron-injection layer. Teflon-AF was used as the hole-injection material, and alkali-metal carbonates of $Li_2CO_3$ were used as the electron-injection materials. To obtain a proper thickness ratio, we manufactured. Four types of devices with the thickness ratio of HIL to EIL were made to be 1 : 4, 2 : 3, 3 : 2, and 4 : 1. The results of electrical and optical properties showed that the device with the thickness ratio of 4 : 1 is the most excellent result. In addition, to prepare a four-layer device by inserting the ${\alpha}$-NPD is a hole transporting material was compared with three-layer element. As a result, the maximum luminance, the maximum luminous efficiency, maximum external quantum efficiency of about 124 [%], 164 [%], 106 [%] improve was confirmed.
ITO (Indium Tin Oxide) thin films have been extensively studied for OLED devices because they have high transparent properties in the visible wavelength and a low electrical resistivity. These ITO films are deposited by rf-magnetron sputtering under different ambient gases (Ar, Ar+$O_2$ and Ar+$H_2$) at $300^{\circ}C$. In order to investigate the influences of the oxygen and hydrogen, the flow rate of oxygen and hydrogen in argon has been changed from 0.5sccm to 5sccm and from 0.01sccm to 0.25sccm respectively. The resistivity of ITO film increased with increasing flow rate of $O_2$ under Ar+$O_2$ while it is nearly constant under Ar+$H_2$. And the peak of ITO films obtained (222) and (400) orientations and the average transmittance was over 80% in the visible range. The OLED device fabricated with different ITO substrates made by configuration of ITO/$\alpha$-NPD/Alq3/LiF/Al to elucidate the performance of ITO substrate for OLED device.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제10권6호
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pp.203-207
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2009
We have investigated the effect of ambient gases on the structural, electrical, and optical characteristics of ITO thin films intended for use as anode contacts in OLED (organic light emitting diodes) devices. These ITO thin films are deposited by radio frequency (RF) magnetron sputtering under different ambient gases (Ar, Ar+$O_2$, and Ar+$H_2$) at $300{^{\circ}C}$. In order to investigate the influences of the oxygen and hydrogen, the flow rate of oxygen and hydrogen in argon mixing gas has been changed from 0.5 sccm to 5 sccm and from 0.01 sccm to 0.25 sccm, respectively. The intensity of the (400) peak in the ITO thin films increased with increasing $O_2$, flow rate whilst the (400) peak was nearly invisible in an atmosphere of Ar+$H_2$. The electrical resistivity of the ITO thin films increased with increasing $O_2$ flow rate, whereas the electrical resistivity decreased sharply under an Ar+$H_2$ atmosphere and was nearly similar regardless of the $H_2$ flow rate. The change of electrical resistivity with changes in the ambient gas composition was mainly interpreted in terms of the charge carrier mobility rather than the charge carrier concentration. All the films showed an average transmittance of over 80% in the visible range. The OLED device was fabricated with different ITO substrates made with the configuration of ITO/$\alpha$-NPD/DPVB/$Alq_3$/LiF/Al in order to elucidate the performance of the ITO substrate. Current density and luminance of OLED devices with ITO thin films deposited in Ar+$H_2$ ambient gas is the highest among all the ITO thin films.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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