1 |
Sung, M. M.; Kim, Y. Bull. Korean Chem. Soc. 2001, 22, 748
|
2 |
Wasserman, S. R.; Tao, Y.-T.; Whitesides, G. M. Langmuir 1989, 5, 1074
DOI
ScienceOn
|
3 |
Silberzan, P.; Leger, L.; Ausserre, D.; Benattar, J. J. Langmuir 1991, 7, 1647
DOI
|
4 |
Allara, D. L.; Parikh, A. N.; Rondelez, F. Langmuir 1995, 11, 2357
DOI
ScienceOn
|
5 |
Carraro, C.; Yauw, O. W.; Sung, M. M.; Maboudian, R. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 4441
DOI
ScienceOn
|
6 |
Sung, M. M.; Carraro, C.; Yauw, O. W.; Kim, Y.; Maboudian, R. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 1556
DOI
ScienceOn
|
7 |
Ishizaka, A.; Shiraki, Y. J. Electrochem. Soc. 1986, 133, 666
DOI
ScienceOn
|
8 |
Brozoska, J. B.; Ben Azouz, I.; Rondelez, F. Langmuir 1994, 10, 4367
DOI
ScienceOn
|
9 |
Parikh, A. N.; Allara, D. L.; Azouz, I. B.; Rondelez, F. J. Phys. Chem. 1994, 98, 7577
DOI
ScienceOn
|
10 |
Ulman, A. An Introduction to Ultrathin Organic Films; Academic Press: Boston, MA, 1991
|
11 |
Swalen, J. D.; Allara, D. L.; Andrade, J. D.; Chandross, E. A.; Garoff, S.; Israelachvili, J.; McCarthy, T. J.; Murray, R.; Pease, R. F.; Rabolt, J. F.; Wynne, K. J.; Yu, H. Langmuir 1987, 3, 932
DOI
|
12 |
Bierbaum, K.; Grunze, A. A.; Baski, A. A.; Chi, L. F.; Schrepp, W.; Fuchs, H. Langmuir 1995, 11, 2143
DOI
ScienceOn
|
13 |
Sung, M. M.; Yun, W. J.; Lee, S. S.; Kim, Y. Bull. Korean Chem. Soc. 2003, 24, 610
DOI
ScienceOn
|
14 |
Brozoska, J. B.; Shahidzadeh, N.; Rondelez, F. Nature 1992, 360, 719
DOI
ScienceOn
|
15 |
Schwartz, D. K.; Steinberg, S.; Israelachvili, J; Zasadzinski, J. A. N. Phys. Rev. Lett. 1992, 69, 3354
DOI
ScienceOn
|
16 |
Vallant, T.; Brunner, B.; Mayer, U.; Hoffmann, H.; Leitner, T.; Resch, R.; Friedbacher, G. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 7190
DOI
ScienceOn
|
17 |
Britt, D. W.; Hlady, V. J. Colloid Interf. Sci. 1996, 178, 775
DOI
ScienceOn
|
18 |
Balgar, T.; Bautista, R.; Hartmann, N.; Hasselbrink, E. Surface Science 2003, 532-535, 963
DOI
ScienceOn
|
19 |
Rozlosnik, N.; Gerstenberg, M. C.; Larsen, N. B. Langmuir 2003, 19, 1182
DOI
ScienceOn
|
20 |
Basnar, B.; Friedbacher, G.; Brunner, H.; Vallant, T.; Mayer, U.; Hoffmann, H. Applied Surface Science 2001, 171, 213
DOI
ScienceOn
|