1 |
G. Kenugapal and S. -J. Kim, Current Appl. Phys., 11, S381 (2011).
DOI
ScienceOn
|
2 |
S. Akasaka, K. Tamura, K. Nakahara, T. Tanabe, A. Kamisawa and M. Kawasaki1, Appl. Phys. Lett., 93, 123309 (2008).
DOI
ScienceOn
|
3 |
W. T. Chen, S. Y. Lo, S. C. Kao, H. W. Zan, C. C. Tsai, J. H. Lin, C. H. Fang and C. C. Lee, IEEE Electron. Dev. Lett., 32, 1552 (2011).
DOI
ScienceOn
|
4 |
S. W. Tsao, T. C. Chang, S. Y. Huang, M. C. Chen, S. C. Chen, C. T. Tsai, Y. J. Kuo, Y. C. Chen and W. C. Wub, Solid State Electronics, 54, 1497 (2010).
DOI
ScienceOn
|
5 |
D. W. Jeong, J. J. Kim and J. O Lee, J. Korean Phys. Soc., 59(5), 3133 (2011).
DOI
ScienceOn
|
6 |
K. Nomura, T. Kamiya and H. Hosono, Adv. Mater., 23, 3431 (2011).
DOI
ScienceOn
|
7 |
J. S. Lee, Y. J. Kwack and W. S. Choi, J. Korean Phys. Soc., 59(5), 3305 (2011).
|
8 |
D. Cha, S. Lee, J. Jung and I. An, J. Korean Phys. Soc., 56(3), 846 (2010).
DOI
ScienceOn
|
9 |
J. Maserjian, J. Vac. Sci. Technol., 11, 996 (1974).
DOI
|
10 |
K. Nomura, T. Kamiya, H. Ohta, M. Hirano and H. Hosono, Appl. Phys. Lett., 93, 192107 (2008).
DOI
ScienceOn
|
11 |
O. Mitrofanov and M. Mantra, J. Appl. Phys., 95, 6414 (2004).
DOI
ScienceOn
|
12 |
M. E. Lopes, H. L. Gomes, M. C. R. Medeiros, P. Barquinha, L. Pereira, E. Fortunato, R. Martins and I. Ferreira, Appl. Phys. Lett., 95, 063502 (2009).
DOI
ScienceOn
|
13 |
T. Oh and C. K. Choi, J. Korean Phys. Soc., 56, 1150 (2010).
DOI
ScienceOn
|
14 |
Y. Y. Peng, T. E. Hsieh and C. H. Hsu, Nanotechnology, 17, 174 (2006)
DOI
ScienceOn
|
15 |
J. Maserjian and N. Zamani, Appl. Phys. Lett., 53, 559 (1982).
|
16 |
J. Heo, H. J. Kim, J. H. Han and J. W. Shon, Thin Solid Films, 515, 5035 (2007).
DOI
ScienceOn
|
17 |
J. G. Simmons, Phys. Rev., 155, 657 (1967).
DOI
|