Acknowledgement
본 연구는 한국수력원자력(주)과 지방자치단체(울산광역시)의 지원으로 수행된 연구임 (2023).
References
- J. Koruza, A. J. Bell, T. Fromling, K. G. Webber, K. Wang, and J. Rodel, J. Materiomics, 4, 13 (2018). doi: https://doi.org/10.1016/j.jmat.2018.02.001
- D. Damjanovic, N. Klein, J. Li, and V. Porokhonskyy, Funct. Mater. Lett., 3, 5 (2010). doi: https://doi.org/10.1142/S1793604710000919
- M. S. Collin, S. K. Venkatraman, N. Vijayakumar, V. Kanimozhi, S. M. Arbaaz, R.G.S. Stacey, J. Anusha, R. Choudhary, V. Lvov, G. I. Tovar, F. Senatov, S. Koppala, and S. Swamiappan, J. Hazard. Mater., 7, 100094 (2022). doi: https://doi.org/10.1016/j.hazadv.2022.100094
- A. J. Bell and O. Deubzer, MRS Bull., 43, 581 (2018). doi: https://doi.org/10.1557/mrs.2018.154
- T. G. Song and M. H. Lee, Ceramist, 17, 32 (2014).
- S. L. Ryu, K. H. Chung, J. H. Yoo, B. Y. Lee, and Y. H. Jeong, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 18, 821 (2005). doi: https://doi.org/10.4313/JKEM.2005.18.9.821
- H. Wei, H. Wang, Y. Xia, D. Cui, Y. Shi, M. Dong, C. Liu, T. Ding, J. Zhang, Y. Ma, N. Wang, Z. Wang, Y. Sun, R. Wei, and Z. Guo, J. Mater. Chem. C, 6, 12446 (2018). doi: https://doi.org/10.1039/C8TC04515A
- J. Wu, J. Appl. Phys., 127, 190901 (2020). doi: https://doi.org/10.1063/5.0006261
- P. K. Panda, B. Sahoo, T. S. Thejas, and M. Krishna, J. Electron. Mater., 51, 938 (2022). doi: https://doi.org/10.1007/s11664-021-09346-0
- T. Zheng, J. Wu, D. Xiao, and J Zhu, Prog. Mater. Sci., 98, 552 (2018). doi: https://doi.org/10.1016/j.pmatsci.2018.06.002
- T. G. Lee and S. Nahm, Trans. Electr. Electron. Mater., 20, 385 (2019). doi: https://doi.org/10.1007/s42341-019-00134-6
- P. Naik, A. Nayak, and S. K. Patri, Trans. Electr. Electron. Mater., 24, 149 (2022). doi: https://doi.org/10.1007/s42341-022-00425-5
- J. Y. Park, T. A. Duong, S. S. Lee, C. W. Ahn, B. W. Kim, H. S. Han, and J. S. Lee, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 36, 513 (2023). doi: https://doi.org/10.4313/JKEM.2023.36.5.12
- W. Krauss, D. Schutz, F. A. Mautner, A. Feteira, and K. Reichmann. J. Eur. Ceram. Soc., 30, 1827 (2010). doi: https://doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2010.02.001
- M. Y. Lee, S. L. Ryu, J. H. Yoo, K. H. Chung, Y. H. Jeong, J. I. Hong, and H. S. Yoon, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 17, 1056 (2004). doi: https://doi.org/10.4313/JKEM.2004.17.10.1056
- A. Ayrikyan, O. Prach, N. H. Khansur, S. Keller, S. Yasui, M. Itoh, O. Sakata, K. Durst, and K. G. Webber, Acta Mater., 148, 432 (2018). doi: https://doi.org/10.1016/j.actamat.2018.02.014
- D. S. Lee, D. H. Lim, M. S. Kim, K. H. Kim, and S. J. Jeong, Appl. Phys. Lett., 99, 062906 (2011). doi: https://doi.org/10.1063/1.3621878
- S. Halder, S. Bhuyan, and R.N.P. Choudhary, Trans. Electr. Electron. Mater., 20, 24 (2019). doi: https://doi.org/10.1007/s42341-018-0076-y
- J. S. Park, K. T. Lee, J. H. Cho, Y. H. Jeong, J. H. Paik, and J. S. Yun, J. Korean Ceram. Soc., 51, 527 (2014). doi: https://doi.org/10.4191/kcers.2014.51.6.527
- Y. Kang, J. Y. Park, M. A. Devita, T. A. Duong, C. W. Ahn, B. W. Kim, H. S. Han, and J. S. Lee, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 35, 516 (2022). doi: https://doi.org/10.4313/JKEM.2022.35.5.15
- S. H. Lee, S. H. Kim, F. Erkinov, H.T.K. Nguyen, T. A. Duong, H. S. Han, and J. S. Lee, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 33, 37 (2020). doi: https://doi.org/10.4313/JKEM.2020.33.1.37
- M. Li, Q. Li, B. Yan, A. K. Yadav, H. Wang, G. Dong, and H. Fan, Ceram. Int., 47, 1325 (2021). doi: https://doi.org/10.1016/j.ceramint.2020.08.254
- T. H. Dinh, H. Y. Lee, C. H. Yoon, R. A. Malik, Y. M. Kong, and J. S. Lee, J. Korean Phys. Soc., 62, 1004 (2013). doi: https://doi.org/10.3938/jkps.62.1004
- R. F. Ge, Z. H. Zhao, S. F. Duan, X. Y. Kang, Y. K. Lv, D. S. Yin, and Y. Dai, J. Alloys Compd., 724, 1000 (2017). doi: https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2017.07.086
- S. S. Lee, C. H. Lee, T. A. Duong, D. H. Kim, B. W. Kim, H. S. Han, and J. S. Lee, Korean J. Mater. Res., 31, 562 (2021). doi: https://doi.org/10.3740/MRSK.2021.31.10.562
- T. A. Duong, H. S. Han, Y. H. Hong, Y. S. Park, H.T.K. Nguyen, T. H. Dinh, and J. S. Lee, J. Electroceram., 41, 73 (2018). doi: https://doi.org/10.1007/s10832-018-0161-y
- H. D. Li, C. D. Feng, and P. H. Xiang, Jpn. J. Appl. Phys., 42, 7387 (2003). doi: https://doi.org/10.1143/JJAP.42.7387
- X. Zhang, Y. Xiao, B. Du, Y. Li, Y. Wu, L. Sheng, and W. Tan, Materials, 14, 6666 (2021). doi: https://doi.org/10.3390/ma14216666