Electrical & Electronic Materials (E2M - 전기 전자와 첨단 소재)

The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers (한국전기전자재료학회)
권호 표지

전극 투명도 극대화를 위한 광산란 억제 기술과 전장사업

  • 김선경 (경희대학교 응용물리학과)
  • Published : 2022.06.01
Download PDF
⟨ Previous Next ⟩

Abstract

Keywords

References

  1. G. A. Potoczny, T. S. Bejitual, J. S. Abell, K. A. Sierros, D. R. Cairns, and S. N. Kukureka, Thin Solid Films, 528, 205 (2013). [doi: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2012.09.082]
  2. J. Groep, P. Spinelli, and A. Polman, Nano Lett., 12, 3138 (2012). [doi: https://doi.org/10.1021/nl301045a]
  3. P. C. Hsu, S. Wang, H. Wu, V. K. Narasimhan, D. Kong, H. R. Lee, and Y. Cui, Nat. Commun., 4, 2522 (2013). [doi: https://doi.org/10.1038/ncomms3522]
  4. S. Ji, J. Jang, E. Cho, S. H. Kim, E. S. Kang, J. Kim, H. K. Kim, H. Kong, S. K. Kim, J. Y Kim, and J. U. Park, Adv. Mater., 29, 1700538 (2017). [doi: https://doi.org/10.1002/adma.201700538]
  5. A. Kim, Y. Won, K. Woo, C. H. Kim, and J. Moon, ACS Nano, 7, 1081 (2013). [doi: https://doi.org/10.1021/nn305491x]
  6. Y. Fang, Z. Wu, J. Li, F. Jiang, K. Zhang, Y. Zhang, Y. Zhou, J. Zhou, and B. Hu, Adv. Funct. Mater, 28, 1705409 (2018). [doi: https://doi.org/10.1002/adfm.201705409]
  7. B. W. An, S. Heo, S. Ji, F. Bien, and J. U. Park, Nat. Commun., 9, 2458 (2018). [doi: https://doi.org/10.1038/s41467-018-04906-1]
  8. S. Ji, J. Park, Y. Jo, Y. B. Kim, J. Jang, S. K. Kim, S. Jeong, and J. U. Park, Appl. Surf. Sci., 483, 1101 (2019). [doi: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2019.04.052]
  9. E. Kim, H. Cho, K. Kim, T. W. Koh, J. Chung, J. Lee, Y. K. Park, and S. Yoo, Adv. Mater., 27, 1624 (2015). [doi: https://doi.org/10.1002/adma.201404862]
  10. G. Kang, K. Bae, M. Nam, D. H. Ko, K. Kim, and W. J. Padilla, Energy Environ. Sci., 8, 2650 (2015). [doi: https://doi.org/10.1039/C5EE01757B]
  11. S. K. Kim, X. Zhang, D. J. Hill, K. D. Song, J. S. Park, H. G. Park, and J. F. Cahoon, Nano Lett., 15, 753 (2015). [doi: https://doi.org/10.1021/nl504462e]
  12. R. Goul, S. Das, Q. Liu, M. Xin, R. Lu, R. Hui, and J. Z. Wu, Carbon, 111, 386 (2017). [doi: https://doi.org/10.1016/j.carbon.2016.10.019]
  13. T. S. van Zanten, M. J. Lopez-Bosque, and M. F. Garcia-Parajo, Small, 6, 270 (2010). [doi: https://doi.org/10.1002/smll.200901204]
  14. S. K. Kim, H. S. Ee, W. Choi, S. H. Kwon, J. H. Kang, Y. H. Kim, H. Kwon, and H. G. Park, Appl. Phys. Lett., 98, 011109 (2011). [doi: https://doi.org/10.1063/1.3537812]
  15. A. Alu and N. Engheta, Phys. Rev. E, 72, 016623 (2015). [doi: https://doi.org/10.1103/PhysRevE.72.016623]