References
- P. T. Craddock, 2000 years of zine and brass (British Museum, London) 27 (1998).
- S. F. Boesen and J. E. Jacobs, Proceedings of the IEEE, 56, 2094 (1968).
- S. Lee, J. Shin, and J. Jang, Adv. Funct. Mater. 27, 1604921 (2017). https://doi.org/10.1002/adfm.201604921
- Ye. Shin, S. T. Kim, K. Kim, M. Y. Kim, S. Oh and J. K. Jeong, Sci. Rep. 7, 10885 (2017). https://doi.org/10.1038/s41598-017-11461-0
- C. W. Shih, A. Chin, C. F. Lu and W. F. Su, Sci. Rep. 6,19023 (2016). https://doi.org/10.1038/srep19023
- Ch. Chen, B. R. Yang, G. Li, H. Zhou, B. Huang, Q. Wu, R. Zhan, Y. Y. Noh, T. Minari, S. Zhang, S. Deng, H. Sirringhaus and C. Liu. Adv. Sci. 6, 1801189 (2019). https://doi.org/10.1002/advs.201801189
- S. Li, M. Tian, Q. Gao, M. Wang, T. Li, Q. Hu, X. Li and Y. Wu. Narure Mater. 18, 1091 (2019).
- Y. J. Chung, U. K. Kim, E. S. Hwang and C. S. Hwang, Appl. Phys. Lett. 105, 013508 (2014). https://doi.org/10.1063/1.4889856
- M. Lee, J. W. Jo, Y. J. Kim, S. M. Kwon, J. S. Pil, S. Choi, A. Facchetti, Y. H. Kim and S. K. Park, Adv. Mater. 30, 1804120 (2018). https://doi.org/10.1002/adma.201804120
- H. Faber, S. Dasl, Y. H. Lin, N. Pliatsikas, K. Zhao, T. Kehagias, G. Dimitrakopulos, A. Amassian, P. A. Patsalas and T. D. Anthopoulos, Sci. Adv. 3, e1602640 (2017). https://doi.org/10.1126/sciadv.1602640
- S. M. Kwon, J. K. Won, J. W. Jo, J. Kim, H. J. Kim, H. I. Kwon, J. Kim, S. Ahn, Y. H. Kim, M. J. Lee, H. Lee, T. J. Marks, M. G. Kim, S. K. Park, Sci. Adv. 4, eaap 9104 (2018).
- J. Wu, H. Yuan, M. Meng, C. Chen, Y. Sun, Z. Chen, W. Dang, C. Tan, Y. Liu, J. Yin, Y. Zhou, S. Huang, H. Q. Xu, Y. Cui, H. Y. Hwang, Z. Liu, Y. Chen, B. Yan and H. Peng, Narure Nanotech. 12, 530 (2017). https://doi.org/10.1038/nnano.2017.43
- C. Zhang, J. Wu, Y. Sun, C. Tan, T. Li, T. Tu, Y. Zhang, Y. Liang, X. Zhou, P. Gao and H. Peng, J. Am. Chem. Soc. 142,2726 (2020). https://doi.org/10.1021/jacs.9b11668
- X. Zou, G. Fang, L. Yuan, M. Li, W. Guan and X. Zhao, lEEE Electron Device Lett. 31, 827 (2010). https://doi.org/10.1109/LED.2010.2050576
- E. Fortunato, V. Figueiredo, P. Barquinha, E. Elamurugu, R. Barros, G. Goncalves, S. H. K. Park, C. S. Hwang and R. Martins, Appl. Phys. Lett. 96,192102 (2010). https://doi.org/10.1063/1.3428434
- J. A. Caraveo-Frescas, P. K. Nayak, H. A. Al-Jawhari, D. B. Granato, U. Schwingenschlogl and H. N. Alshareef, ACS Nano 7, 5160 (2013). https://doi.org/10.1021/nn400852r
- Y. J. Han, Y. J. Choi, I. T. Cho, S. H. Jin, J. H. Lee and H. I. Kwon, IEEE Electron Device Lett. 35,1260 (2014). https://doi.org/10.1109/LED.2014.2363879
- S. H. Kim, I. H. Baek, D. H. Kim, J. J. Pyeon, T. M. Chung, S. H. Baek, J. S. Kim, J. H. Han and S. K. Kim, J. Mater. Chem. C 5, 3139 (2017). https://doi.org/10.1039/C6TC04750E
- K. Okamura, B. Nasr, R. Brand and H. Hahn, J. Mater. Chem. 22, 4607 (2012). https://doi.org/10.1039/c2jm16426d
- S. Y. Kim, C. H. Ahn, J. H. Lee, Y. H. Kwon, S. Hwang, J. Y. Lee and H. K. Cho, ACS Applied Mater. and Interfaces 5, 2417 (2013). https://doi.org/10.1021/am302251s
- A. Liu, H. Zhu, W. T. Park, S. J. Kang, Y. Xu, M. G. Kim and Y. Y. Noh, Adv. Mater. 30, 1802379 (2018). https://doi.org/10.1002/adma.201802379
- T. Matsushima, S. Terakawa, M. R. Leyden, T. Fujihara, C. Qin and C. Adachi, J. Appl. Phys. 125,235501 (2019). https://doi.org/10.1063/1.5097433
- N. Wijeyasinghe, A. Regoutz, F. Eisner, T. Du, L. Tsetseris, Y. -H. Lin, H. Faber, P. Pattanasattayavong, J. Li, F. Yan, M. A. McLachlan, D. J. Payne, M. Heeney and T. D. Anthopoulos, Adv. Funct. Mater. 27, 1701818 (2017). https://doi.org/10.1002/adfm.201701818
- A. R. M. Yusoff, H. P. Kim, X. Li, J. Kim, J. Jang and. M. K. Nazeeruddin, Adv. Mater. 29, 1602940 (2017). https://doi.org/10.1002/adma.201602940
- D. B. Mitzi, M. Copel and C. E. Murray, Adv. Mater. 18, 2448 (2006). https://doi.org/10.1002/adma.200600157
- C. Zhao, C. Tan, D.-H. Lien, X. Song, M. Amani, M. Hettick, H. Y. Y. Nyein, Z. Yuan, L. Li, M. C. Scott and A. Javey, Narure Nanotech. 15, 53 (2020). https://doi.org/10.1038/s41565-019-0585-9