초록
디지털 프린지 투사를 이용한 3차원 광학 측정시스템은 많은 비접촉 측정 응용에 사용된다. 수 ㎛까지 측정할 수 있는 이 시스템은 LCD를 사용하여 디지털 프린지 패턴을 생성한다. 이는 다양한 디지털 프린지 패턴을 컴퓨터 소프트웨어로 쉽게 만들 수 있기 때문이다. LCD 감마비선형에 의하여 물체에 투사된 디지털 프린지 패턴 에러는 3차원 물체 측정의 정확도에 영향을 준다. 정확도를 개선하기 위하여 광도전달함수(intensity transfer function)의 역함수를 사용하여 LCD 감마비선형에 의한 에러를 줄일 수 있는 개선된 방법을 제안하였다. 표준 반도체시편을 가지고 컴퓨터에서 생성한 사인파와 카메라에서 얻은 사인파의 차를 측정하여 제안한 방법의 개선효과를 보였다.
Optical three-dimensional (3D) measurement systems based on digital fringe projection are used in many contactless measurement applications. The system which can measure a dozen micrometers uses a liquid-crystal display (LCD) as the projection unit for generating a digital fringe pattern, because a flexible fringe pattern can be easily made by computer software. According to the gamma nonlinearity of the LCD projection unit, the digital fringe projection error on the object affects the accuracy of 3D object measurement. An improved method of LCD gamma-nonlinearity error reduction is proposed, by using the inverse function of the intensity transfer function to improve the accuracy. The improvement due to the proposed method is shown by measuring the difference in precision between a computer-generated sine wave and a camera-obtained sine wave for a standard semiconductor specimen.