Electrical & Electronic Materials (E2M - 전기 전자와 첨단 소재)

The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers (한국전기전자재료학회)
권호 표지

열전발전모듈용 소재 및 공정 기술

  • 문승필 (한국전력공사 전력연구원) ;
  • 김성웅 (성균관대학교 에너지과학과) ;
  • 이규형 (강원대학교 나노응용공학과)
  • Published : 2018.02.01
Download PDF
⟨ Previous Next ⟩

Abstract

Keywords

References

  1. G. J. Snyder and E. S. Toberer, Nat. Mater., 7, 105 (2008). https://doi.org/10.1038/nmat2090
  2. B. C. Sales, D. Mandrus, and R. K. Williams, Science, 272, 1325 (1996). https://doi.org/10.1126/science.272.5266.1325
  3. G. S. Nolas, D. T. Morelli, and T. M. Tritt, Annu. Rev. Mater. Sci., 29, 89 (1999). https://doi.org/10.1146/annurev.matsci.29.1.89
  4. J. R. Sootsman, D. Y. Chung, and M. G. Kanatzidis, Angew. Chem., 48, 8616 (2009). https://doi.org/10.1002/anie.200900598
  5. M. Rull-Bravo, A. Moure, J. F. Fernandez, and M. Martin-Gonzalez, RSC Adv., 5, 41653 (2015). https://doi.org/10.1039/C5RA03942H
  6. S. M. Choi, K. H. Kim, S. M. Jeong, H. S. Choi, Y. S. Lim, W. S. Seo, I. H. Kim, J. Electron. Mater., 41, 1004 (2012). https://doi.org/10.1007/s11664-011-1871-y
  7. J. Q. Guo, H. Y. Geng, T. Ochi, S. Suzuki, M. Kikuchi, Y. Yamaguchi, and S. Ito, J. Electron. Mater., 41, 1036 (2012). https://doi.org/10.1007/s11664-012-1958-0
  8. J. R. Salvador, J. Y. Cho, Z. Ye, J. E. Moczygemba, A. J. Thompson, J. W. Sharp, J. D. Koenig, R. Maloney, T. Thompson, J. Sakamoto, H. Wang, and A. A. Wereszczak, Phys. Chem. Chem. Phys., 16, 12520 (2014).
  9. T. Ochi, G. Nie, S. Suzuki, M. Kikuchi, S. Ito, and J. Q. Guo, J. Electron. Mater., 43, 2344 (2014). https://doi.org/10.1007/s11664-014-3060-2
  10. E. Alleno, N. Lamquembe, R. Cardoso-Gil, M. Ikeda, F. Widder, O. Rouleau, C. Godart, Yu. Grin, and S. Paschen, Phys. Status Solidi A, 211, 1293 (2014). https://doi.org/10.1002/pssa.201300218
  11. J. R. Salvador, J. Y. Cho, Z. Ye, J. E. Moczygemba, A. J. Thompson, J. W. Sharp, J. D. Koenig, R. Maloney, T. Thompson, J. Sakamoto, H. Wang, A. A. Wereszczak, and G. P. Meisner, J. Electron. Mater., 42, 1389 (2012).
  12. G. C. Jorge, V. P. Anthony, K. Andreas, V. Paz, and M. Gao, J. Electron. Mater., 42, 1369 (2012).
  13. Q. H. Zhang, X. Y. Huang, S. Q. Bai, X. Shi, C. Uher, L. D. Chen, Adv. Engineer. Mater., 18, 194 (2016). https://doi.org/10.1002/adem.201500333
  14. G. Rogl, L. Zhang, P. Rogl, A. Grytsiv, M. Falmbigl, D. Rajs, M. Kriegisch, H. Muller, E. Bauer, J. Koppensteiner, W. Schranz, M. Zehetbauer, Z. Henkie, and M. B. Maple, J. Appl. Phys., 107, 04507 (2010).
  15. W. Liu, Q. Jie, H. S. Kim, and Z. Ren, Acta Mater., 87, 357 (2015). https://doi.org/10.1016/j.actamat.2014.12.042
  16. P. Zong, R. Hanus, M. Dylla, Y. Tang, J. Liao, Q. Zhang, G. J. Snyder, and L. Chen, Energy Environ. Sci., 9, 517 (2016). https://doi.org/10.1039/C5EE02979A
  17. S. S. Jee, S. Y. Kim, S. J. Kim, J. M. Park, K. H. Lee, J. H. Lee, K. H. Park, J. N. Heo, S. M. Lee, I. T. Han, K. R. Lim, W. T. Kim, D. H. Kim, and E. S. Lee, Appl. Phys. Lett., 101, 084104 (2012). https://doi.org/10.1063/1.4747216