References
- D. Khomskii, Physics , 2, 20 (2009). https://doi.org/10.1103/Physics.2.20
- S. W. Cheong and M. Mostovoy, Nat. Mater., 6, 13 (2007). https://doi.org/10.1038/nmat1804
- J. Wang, J. B. Neaton, H. Zheng, V. Nagarajan, S. B. Ogale, B. Liu, D. Viehland, V. Vaithyanathan, D. G. Schlom, U. V. Waghmare, N. A. Spaldin, K. M. Rabe, M. Wuttig, and R. Ramesh, Science, 299, 1719 (2003). https://doi.org/10.1126/science.1080615
- T. Kimura, T. Goto, H. Shintani, K. Ishizaka, T. Arima, and Y. Tokura, Nature, 426, 55 (2003). https://doi.org/10.1038/nature02018
- N. Hur, S. Park, P. A. Sharma, J. S. Ahn, S. Guha, and S. W. Cheong, Nature, 429, 392 (2004). https://doi.org/10.1038/nature02572
- Y. Kitagawa, Y. Hiraoka, T. Honda, T. Ishikura, H. Nakamura, and T. Kimura, Nat. Mater., 9, 797 (2010). https://doi.org/10.1038/nmat2826
- S. H. Chun, Y. S. Chai, B. G. Jeon, H. J. Kim, Y. S. Oh, I. Kim, H. Kim, B. J. Jeon, S. Y. Haam, J. Y. Park, S. H. Lee, J. H. Chung, J. H. Park, and K. H. Kim, Phys. Rev. Lett., 108, 177201 (2012). https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.108.177201
- A. Chen, Z. Bi, Q. Jia, J. L. MacManus-Driscoll, and H. Wang, Acta Materialia, 61, 2783 (2013). https://doi.org/10.1016/j.actamat.2012.09.072
- H. Palneedi, V. Annapureddy, S. Priya, and J. H. Ryu, Actuators, 5, 9 (2016). https://doi.org/10.3390/act5010009
- Multiferroic Materials, Properties, Techniques, and Applications, CRC Press, 2017.
- J. G. Wan, X. W. Wang, Y. J. Wu, M. Zeng, Y. Wang, H. Jiang, W. Q. Zhou, G. H. Wang, and J. M. Liu, Appl. Phys. Lett., 86, 122501 (2005). https://doi.org/10.1063/1.1889237
- Y. Zhang, C. Deng, J. Ma, Y. Lin, and C. W. Nan, Appl. Phys. Lett., 92, 062911 (2008). https://doi.org/10.1063/1.2841048
- H. Zheng, J. Wang, S. E. Lofland, Z. Ma, L. Mohaddes-Ardabili, T. Zhao, L. Salamanca-Riba, S. R. Shinde, S. B. Ogale, F. Bai, D. Viehland, Y. Jia, D. G. Schlom, M. Wuttig, A. Roytburd, and R. Ramesh, Science, 303, 5658 (2004).
- F. Zavaliche, H. Zheng, L. Mohaddes-Ardabili, S. Y. Yang, Q. Zhan, P. Shafer, E. Reilly, R. Chopdekar, Y. Jia, P. Wright, D. G. Schlom, Y. Suzuki, and R. Ramesh, Nano Lett., 5, 1793 (2005). https://doi.org/10.1021/nl051406i
- H. Zheng, Q. Zhan, F. Zavaliche, M. Sherburne, F. Straub, M. P. Cruz, L. Q. Chen, U. Dahmen, and R. Ramesh, Nano Lett., 6, 1401 (2006). https://doi.org/10.1021/nl060401y
- S. A. Wolf, J. Lu, M. R. Stan, E. Chen, and D. M. Treger, Proc. IEEE 98, 2155 (2010). https://doi.org/10.1109/JPROC.2010.2064150
- D. H. Kim, N. M. Aimon, X. Sun, L. Kornblum, F. J. Walker, C. H. Ahn, and C. A. Ross, Adv. Func. Mater., 24, 5889 (2014). https://doi.org/10.1002/adfm.201401458
- R. Comes, H. Liu, M. Khokhlov, R. Kasica, J. Lu, and S. A. Wolf, Nano Lett., 12, 2367 (2012). https://doi.org/10.1021/nl3003396
- S. M. Stratulat, X. Lu, A. Morelli, D. Hesse, W. Erfurth, and M. Alexe, Nano Lett., 13, 3884 (2013). https://doi.org/10.1021/nl401965z
- N. M. Aimon, H. K. Choi, X. Sun, D. H. Kim, and C. A. Ross, Adv. Mater., 26, 3063 (2014). https://doi.org/10.1002/adma.201305459
- H. K. Choi, N. M. Aimon, D. H. Kim, X. Y. Sun, J. Gwyther, I. Manners, and C. A. Ross, ACS Nano, 8, 9248 (2014). https://doi.org/10.1021/nn503100s