국방 EMP 방호능력의 효율적 개선을 위한 방안 연구

A Study for the Efficient Improvement Measures of Military EMP Protection Ability

현재 군 지휘정보체계는 반도체칩이 장착된 전자기기의 활용도가 높으며, 최신 정보통신기술 발전에 따라 그 비중은 더욱 증가할 것으로 예상된다. 전기를 사용하는 전자기기의 경우 고출력 전기신호에 대한 일정한 내성을 보유하고 있다. 이러한 전자기기 내성을 기준화 한 것이 EMC 규격이다. 한편 원자력 연구원에서는 서울 상공 100km지점에서 10kt급의 핵폭발이 발생할 경우 반경 170km 지역까지 고출력전자기파가 발생하여 해당지역 대부분 전자장비에 피해가 예상된다는 시뮬레이션 결과를 발표한 바 있다. 이러한 경우 발생하는 영향을 방호하기 위한 기준은 EMP 방호 규격으로 정의된다. 대부분의 상용 전자기기의 경우 EMC 기준은 충족하지만 EMP 기준을 충족하는지의 여부를 확인할 수가 없다. EMP 방호기준 충족여부를 확인하기 위한 장비와 절차가 쉽지 않고 비용적인 측면이 있기 때문이다. 보통 부득이한 경우를 제외하고는 EMP 방호기준 충족여부에 대해서는 검증하지 않는 실정이다. 이점을 고려하여 본 연구에서는 EMC-EMP 상관관계 분석을 통하여 일반 전자기기의 EMP 방호능력에 대해서 확인하고 이를 바탕으로 EMP 방호능력 향상방안을 확인하였다.

Current military command information system uses electronic equipment a lot on which semiconductor chip is attached. It seems its' importance will increase more with latest information communication technology developing. Electronic equipment which uses electricity contains regular tolerance to high output electric signal. And EMC specification is the standardized of this electronic equipment's tolerance. On the other hand, the Institute of Atomic Energy Research has ever declared that high output electromagnetic pulse(EMP) will be broken out within the radius of 170Km when 10kt nuclear explosion occurs at an altitude of 40Km above Seoul. Then, the region suffer from the damage of most electronic equipments. Therefore, the norm to protect the influences in that case is defined by EMP protection specification. Most common electronic equipments meet the EMC norm, but there is no way to check whether they meet the EMP norm or not. That is because it is difficult to check whether they meet EMP protection norm and is on the matter of cost. Except inevitable cases, there is no review of checking whether they meet the norm or not. Considering the above, in this research, we speculate about the measures to improve military EMP protection ability by analyzing the EMC-EMP correlation and checking the EMP protection ability of general electronic equipment through the analysis.