참고문헌
- V. A. Dao, H. Choi, J. Heo, H. Park, K. Yoon, Y. Lee, Y. Kim, N. Lakshminarayan, and J. Yi, Curr. Appl. Phys., 10, S506 (2010). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.cap.2010.02.019]
- W. K. Oh, S. Q. Hussain, Y. J. Lee, Y. Lee, S. Ahn, and J. Yi, Mater. Res. Bull., 47, 3032 (2012). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/ j.materresbull.2012.04.106]
- S. Kim, J. Jung, Y. J. Lee, S. Ahn, S. Q. Hussain, J. Park, B. S. Song, S. Han, V. A. Dao, J. Lee, and J. Yi, Mater. Res. Bull., 58, 83 (2014). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.materresbull.2014.05.003]
- S. Q. Hussain, J. H. Lee, S. Kim, S. Ahn, N. Balaji, Y. Lee, and J. Yi, Sol. Energy Mater. Sol. Cells, 122, 130 (2014). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.solmat.2013.11.031]
- S. Q. Hussain, W. K. Oh, S. Ahn, A.H.T. Le, S. Kim, Y. Lee, and J. Yi, Vacuum, 101, 18 (2014). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.vacuum.2013.07.004]
- T. D. Jung and P. K. Song, Curr. Appl. Phys., 11, S314 (2011). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.cap.2011.03.042]
- M. Chuang, J. Mater. Sci. Technol., 26, 577 (2010). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/S1005-0302(10)60088-6]
- S. H. Chang, H. M, Cheng, C. L. Tien, S. C. Lin, and K. P. Chuang, Optic. Mater., 38, 87 (2014). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.optmat.2014.10.004]
- R. X. Wang, C. D. Beling, A. B. Djurisi, S. Li, and S. Fung, Semicond. Sci. Technol., 19, 695 (2004). [DOI: http://dx.doi.org/10.1088/0268-1242/19/6/006]
- P. K. Song, Y. Shigesato, I. Yasui, C. W. O. Yang, and D. C. Paine, Jpn. J. Appl. Phys., 37, 1870 (1998). [DOI: http://dx.doi.org/10.1143/JJAP.37.1870]
- S. Takayama, T. Sugawara, A. Tanaka, and T. Himuro, J. Vac. Sci. Technol., A21, 1351 (2003). [DOI: http://dx.doi.org/10.1116/1.1563623]
- J. A. Thronton and D. W. Hoffman, Thin Solid Films, 171, 5 (1989). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/0040-6090(89)90030-8]
- T. Sasabayashi, N. Ito, E. Nishimura, M. Kon, P. K. Song, K. Utsumi, A. Kaijo, and Y. Shigesato, Thin Solid Films, 445, 219 (2003). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2003.08.047]
- K. Utsumi, H. Iigusa, R. Tokumaru, P. K. Song, and Y. Shigesato, Thin Solid Films, 445, 229 (2003). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/S0040-6090(03)01167-2]
- A. Klein, C. Korber, A. Wachau, F. Sauberlich, Y. Gassenbauer, S. P. Harvey, D. E. Proffit, and T. O. Mason, Materials, 3, 4892 (2010). [DOI: http://dx.doi.org/10.3390/ma3114892]
- S. Q. Hussain, W. K. Oh, S. Kim, S. Ahn, A.H.T. Le, H. Park, Y. Lee, V. A. Dao, S. Velumani, and J. Yi, J. Nanosci. Nanotechnol., 14, 9237 (2014). [DOI: http://dx.doi.org/10.1166/jnn.2014.10142]
- S. Ahn, S. Kim, V. A. Dao, S. Lee, S. M. Iftiquar, D. Kim, S. Q. Hussain, H. Park, J. Lee, Y. Lee, J. Cho, S. Kim, and J. Yi, Thin Solid Films, 546, 342 (2013). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2013.05.132]
- S. Kim, J. Lee, V. A. Dao, S. Lee, N. Balaji, S. Ahn, S. Q. Hussain, S. Han, J. Jung, J. Jang, Y. Lee, and J. Yi, Mater. Sci. Eng. B, 178, 660 (2013). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.mseb.2012.10.029]
- E. H. Kim, C. W. Yang, and J. W. Park, J. Appl. Phys., 109, 043511 (2011). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.3556452]
- W. F. Wu and B. S. Chiou, Appl. Surf. Sci., 115, 96 (1997). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/S0169-4332(96)00852-5]