References
- S. Nakamura, T. Mukai, and M. Senon, Appl. Phys. Lett., 64, 1687 (1994). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.111832]
- C. D. Thurmond and R. A. Rogan, J. Electrochem. Soc., 119, 622 (1972). [DOI: http://dx.doi.org/10.1149/1.2404274]
- C. R. Miskys, M. K. Kelly, O. Ambacher, and M. Stutzmann, Phys. Stat. Sol. C, 0, 1627 (2003). [DOI: http://dx.doi.org/10.1002/pssc.200303140]
- M. Mynbaeva, A. Sitnikova, A. Tregubova, and K. Mynbaev, J. Cryst. Growth, 303, 472 (2007). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2006.12.041]
- E. M. Goldys, T. Paskova, I. G. Ivanov, B. Arnaudov, and B. Monemar, Appl. Phys. Lett., 73, 3583 (1998). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.122831]
- B. Monemar, H. Larsson, C. Hemmingsson, I. G. Ivanov, and D. Gogova, J. Cryst. Growth, 281, 17 (2005). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2005.03.040]
- D. L. Rousseau and J. Raman, Spectrosc., 10, 94 (1981). [DOI: http://dx.doi.org/10.1002/jrs.1250100116]
- P. Perlin, C. Jauberbie-Carillon, J. P. Itie, A. S. Miguel, I. Grzegory, and A. Polian, Phys. Rev. B, 45, 83 (1992). [DOI: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.45.83]
- C. Kisielowski, J. Krueger, S. Ravimov, T. Suski, J. W. Ager III, E. Jones, Z. Liliental-Weber, M. Rubin, E. R. Weber, M. D. Bremser, and R. F. Davis, Phys. Rev. B, 54, 17745 (1996). [DOI: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.54.17745]
- M. Seon, T. Prokfyeva, M. Holtz, S. A. Nikishin, N. N. Fleev, and H. Temkin, Appl. Phys. Lett., 76, 1842 (2000). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.126186]
- T. Prokofyeva, M. Seon, J. Vanbuskirk, M. Holtz, S. A. Nikishin, N. N. Fleev, H. Temkin, and S. Zollner, Phys. Lett., 76, 1842 (2000).
- Y. J. Choi, H. K Oh, J. G. Kim, H. H. Hwang, H. Y. Lee, W. J. Lee, B. C. Shin, and J. H. Hwang, Phys. Status Solidi, C, 7, 1770 (2010). [DOI: http://dx.doi.org/10.1002/pssc.200983632]
- C. Nootz, A. Schulte, and L. Chernyak, Appl. Phys. Lett., 80, 1355 (2002). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.1449523]