References
- S. S. Hong, Y. H. Shin, and K. H. Chung, J. Kor. Vac. Soc. 5(3), 181 (1996).
- P. L. M. Heydemann, C. R. Tilford, and R. W. Hyland, J. Vac. Sci. Technol. 14(1), 587 (1977).
- C. R. Tilford, Applied Optics 16(7), 1857 (1977). https://doi.org/10.1364/AO.16.001857
- P. L. M. Heydemann, C. R. Tilford, and R. W. Hyland, J. Vac. Sci. Technol. 14(1), 599 (1977).
- S. S. Hong, Y. H. Shin, K. H. Chung, I. T. Lim, S. Y. Woo, and S. C. Choi, J. Kor. Vac. Soc. 10(2), 173 (2001).
- Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement. ISO, 11 (1993).
- K. Jousten, Vacuum 45, 1205 (1994). https://doi.org/10.1016/0042-207X(94)90082-5
- K. W. T. Elliott and P. B. Clapham, NPL Mon. 28, 1 (1978).
- S. S. Hong, Y. H. Shin, K. H. Chung, and I. Arakawa, Metrologia 42, 1 (2005). https://doi.org/10.1088/0026-1394/42/1/001
- D. E. Weaver, J. Vac. Sci. Technol. A4(3), 338 (1986).
- J. Y. Lim and K. H. Chung, Vacuum 42(15), 979 (1991). https://doi.org/10.1016/0042-207X(91)90003-2
- K. H. Chung, S. S. Hong, Y. H. Shin, J. Y. Lim, S. K. Lee, and S. Y. Woo, Metrologia 36, 675 (1999). https://doi.org/10.1088/0026-1394/36/6/37
- K. H. Chung and S. S. Hong, IMEKO XIII, Pro XIII IMEKO World Con. (Torino 5-9 Sep., 1994) 3, 1951.
- S. S. Hong, I. T. Lim, Y. H. Shin, and K. H. Chung, A. J. Kor. Vac. Soc. 12(1), 151 (2003).
- S. S. Hong, Y. H. Shin, K. H. Chung, G. Rumiano, M. Bergoglio, and A. Calcatelli, J. Kor. Vac. Soc. 4(2), 135 (1995).
- S. S. Hong, K. H. Chung, and F. J. Redgrave, Metrologia 37, 7 (2000). https://doi.org/10.1088/0026-1394/37/1/2
- S. S. Hong, Y. H. Shin, J. Y. Lim, S. K. Lee, K. H. Chung, D. Simpson, F. Redgrave, M. Perkin, B. Waller, M. Hirata, and S. Suginoma, J. Kor. Vac. Soc. 6(4), 308 (1997).
- S. S. Hong, K. H. Chung, and M. Hirata, Metrologia 36, 643 (1999). https://doi.org/10.1088/0026-1394/36/6/31
- S. S. Hong, Y. H. Shin, K. H. Chung, and K. Jousten, J. Kor. Phys. Soc. 44(6), 1364 (2004).
- A. P. Miiller, M. Bergoglio, N. Bignell, K. M. K. Fen, S. S. Hong, K. Jousten, P. Mohan, F. J. Redgrave, and M. Sardi, Metrologia, 39(07001), 1 (2002). https://doi.org/10.1088/0026-1394/39/1/1