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13-28GHz 대역에서 다양한 매질의 유전율 측정

Permittivity Measurements of various Materials in 13-28GHz Band

  • 박노욱 (충북대학교 전파통신공학전공) ;
  • 정원호 (충북대학교 전파통신공학전공) ;
  • 정명원 (한국전자통신연구원) ;
  • 정영준 (한국전자통신연구원) ;
  • 김종호 (한국전자통신연구원) ;
  • 김경석 (충북대학교 정보통신공학과)
  • 투고 : 2014.01.23
  • 심사 : 2014.02.07
  • 발행 : 2014.02.28

초록

본 논문에서는 밀리미터파 대역에서 다양한 매질들에 대한 유전적 특성의 측정을 통해 유전율 결과를 제시하였다. 밀리미터파는 짧은 파장과 넓은 대역폭을 가지고 있어 부품의 소형화, 경량화가 가능하고, 정보의 대량 전송이 가능하다는 장점을 가지고 있기 때문에 그 연구의 필요성이 높아지고 있다. 이 대역의 전파는 직진성이 뛰어나고 회절성이 작으며 여러 물질들에서 전파가 흡수되어 불필요한 간섭이 잘 발생하지 않는 특징을 가지고 있다. 그렇기 때문에 밀리미터파 대역의 전파가 진행하는 과정에서 반사 투과하는 다양한 매질들의 전기적인 특성에 대한 분석이 중요할 것이다. 따라서 본 논문에서는 밀리미터파 대역에서 Free Space 방식을 이용하여 물질의 반사 투과 특성을 측정하였다. 이를 활용하여 Nicolson-Ross Weir 유전율 계산법을 이용해 다양한 매질들의 유전율을 도출하였다.

This paper presents the results of permittivities of various materials by measurements of the dielectric properties for the materials in millimeter-wave band. Since the advantages of millimeter wave band include the miniaturization, weight reduction of component and a lot of information transfer, its study has received increasing attention of researches. Also, because of the characteristics of the band have the superior straightness and the small diffractive, in the band, the analysis for the reflection and transmission characteristics of the materials will be very important. Moreover, a low interference is one of characteristics of the band due to the fact that the millimeter wave is absorbed in the materials. Therefore, in this paper, the reflection and transmission characteristics of materials are measured in the band by using the free space method. Based on the presented result, the permittivities of the materials are derived by the calculation of Nicolson-Ross Weir method.

키워드

참고문헌

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