초록
본 논문에서는 방사선 측정장치의 저준위 방사선 측정 알고리즘과 방사선량의 급격한 변화에 따른 장치의 반응 속도개선을 위한 알고리즘 및 장치의 구성을 제안한다. 저준위 방사선 측정의 측정 정밀도를 개선하기 위한 알고리즘은 방사선 측정센서로부터 수집된 펄스의 누적평균을 기준으로 하는 듀얼 윈도우 방사선 수치 측정법을 사용한다. 방사선량의 급격한 변화에 따른 장치의 반응 속도개선을 위한 알고리즘은 신규로 입력된 6초 동안의 데이터 패턴분석을 통한 듀얼 윈도우 방사선 수치 측정법을 사용한다. 제안된 알고리즘의 검증을 위한 하드웨어 장치로는 센서 및 고전압 발생부, 제어부, 충전 및 전원회로부, 무선통신부, 디스플레이부 등으로 구성되어 있다. 제안된 알고리즘에서 사용한 듀얼 윈도우 방사선 수치 측정법을 실험한 결과, 기존 5uSv/h 수준의 저선량 한계에서 대체로 불확도가 낮아지고 선형성이 개선됨을 확인할 수 있었다. 또한 급격한 방사선량의 변화에 대한 장비의 반응속도 개선에 대해 실측실험을 통해 6초 이후에 변화된 수치가 반응함을 확인하였다. 따라서 제안된 알고리즘이 급격한 변화에 따른 장치의 반응속도가 개선됨을 확인할 수 있었다.
This paper suggests an algorithm to measure low-level radiation by radiation measuring devices, and the other algorithm to improve reaction speed of the device to better respond to dramatic changes in radiation amount. The former algorithm to improve the accuracy of measuring low-level radiation takes advantage of a dual window radiation measurement method which is based on accumulated average of pulses gathered by a radiation measuring sensor. The latter algorithm is to enhance reaction speed of a measuring device to more sensitively react to dramatic changes in radiation amount by adopting a dual window radiation measurement method which analyzes data patterns newly put into for six seconds. To verify the suggested algorithms, a hardware-which consists of sensor and high-voltage generator, controller, charger and power supply circuit, wireless communication part, and display part-was used. Tests conducted on the dual window radiation measurement method as used in the suggested algorithm have proved that accuracy improves to measure low-level radiation of 5uSv/h, and linearity also gets better. Other tests were conducted to see whether the suggested algorithm enhances the reaction speed of a radiation measuring device so that the device responds better to dramatically changing radiation amount. The experimental results have shown meaningful changes in numbers after six seconds. Therefore, the conclusions are made that the algorithm enhances the reaction speed of the device.
