Atomic Force Microscopy를 이용한 그래핀의 미세구조 및 나노역학 특성 분석

  • 권상구 (한국과학기술원 EEWS 대학원, 기초과학연구원 (IBS)) ;
  • 박정영 (한국과학기술원 EEWS 대학원, 기초과학연구원 (IBS))
  • Published : 2013.09.30