Abstract
In this paper, a free-space material measurement technique is discussed in W-band(75~110 GHz). For the accurate measurement of S-parameters of an MUT(Material Under Test) in free space, a W-band quasi-optical free-space material measurement system, less affected by the measurement environments, is discussed, and GRL(Gated Reflect Line) method for calibrating the measurement system is described. Proposed technique is verified for 'Air' and measurement results for arystal plates of thickness 1.1 mm, 2 mm, 2.75 mm and 5 mm are also shown.
본 논문에서는 W-band(75~110 GHz) 자유공간 물질상수 측정법을 논의하였다. 우선 자유공간에서 주위 환경에 영향을 덜 받으면서 피측정물(MUT: Material Under Test)에 의한 산란계수를 정확하게 측정하기 위한 W-band quasi-optical 기술 기반 자유공간 물질상수 측정시스템을 논의하고, 관련 측정시스템의 GRL(Gated Reflect Line) 교정법을 기술하였다. 그리고 공기를 피측정물로 하여 제안된 측정법의 타당성을 보이고, 두께가 1.1 mm, 2 mm, 2.75 mm, 5 mm인 arystal 평판에 대한 측정 결과를 제시하였다.