References
- K. Ellmer, J. Phys., D33, R17 (2000).
- D. C. Look, B. Clafin, Y. I. Alivor, and S. J. Park, Phys. Status Soldi., A201, 2203 (2004).
- Y. R. Ryu, S. Zhu, D. C. Look, J. M. Wrobel, H. M. Jeong, and H. W. White, J. Cryst. Growth, 216, 330 (2000). https://doi.org/10.1016/S0022-0248(00)00437-1
- Y. F. Chen, D. M. Bagnall, H. Koh, K. Park, K. Hiraga, Z. Zhu, and T. Yao, J. Appl. Phys., 84, 3912 (1998). https://doi.org/10.1063/1.368595
- W. Y. Liang and A. D. Yoffe, Phys. Rev. Lett., 20, 59 (1968). https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.20.59
- D. C. Reynolds, D. C. Look, B. Jogai, C. W. Litton, G. Cantwell, and W . C. Harsch, Phy. Rev., B60, 2340 (1999).
- D. P. Yu, Z. G. Bai, Y. Ding, Q. L. Hang, H. Z. Zhang, J. J. Wang, Y. H. Zou, W. Qian, G. C. Xiong, H. T. Zhou, and S. Q. Feng, Appl. Phys. Lett., 72, 3458 (1998). https://doi.org/10.1063/1.121665
- P. Zu, Z. K. Tang, G. K. L. Wong, M. Kawasaki, A. Ohtomo, H. Koinuma, and Y. Segawa, Solid State Commun., 103, 459 (1997). https://doi.org/10.1016/S0038-1098(97)00216-0
- D. M. Bagnall, Y. F. Chen, M. Y. Shen, Z. Zhu, T. Goto, and T. Yao, J. Cryst. Growth, 184/185, 605 (1998). https://doi.org/10.1016/S0022-0248(98)80127-9
- A. Kobayashi, O. F. Sankey, and J. D. Dow, Phys. Rev., B28, 946 (1983).
- A. Teke, U. Ozgur, S. Dogan, X. Gu, and H. Morkoc, Phys. Rev., B70, 195207 (2004).
- H. Alves, D. Pfisterer, A. Zeuner, T. Riemann, J. Christen, D. M. Hofmann, and B. K. Meyer, Opt. Mat., 23, 33 (2007).
- L. Wang and N. C. Giles, J. Appl. Phys., 94, 973 (2003). https://doi.org/10.1063/1.1586977
- K. Thonke, T. Gruber, N. Teofilov, R. Schonfelder, A. Waag, and R. Sauer, Physica, B308-310, 945 (2001).
- Y. P. Varshni, Physica, 34, 149 (1967). https://doi.org/10.1016/0031-8914(67)90062-6
- J. I. Pankove, Optical Processes in Semiconductors, (Dover Publications, New York, 1971) p. 143.
- B. K. Meyer, H. Alves, D. M. Hofmann, W. Kriegseis, D. Foster, F. Bertram, J. Christen, A. Hoffmann, M. Stasshurg, M. Dwurzak, U. Haboeck, and A. V. Rodina, Phys. Stat. Sol., B241, 231 (2004).
- U. Ozgur, Y. I. Alivov, C. Liu, A. Teke, M. A. Reshchikov, S. Dogan, V. Avrutin, S. J. Cho, and Morkoc, J. Appl. Phys., 98, 041301 (2005). https://doi.org/10.1063/1.1992666