Journal of Satellite, Information and Communications (한국위성정보통신학회논문지)
- Volume 7 Issue 3
- /
- Pages.54-57
- /
- 2012
- /
- 2384-3853(pISSN)
IPS property using ion beam irradiation on SiOF surfaces
SiO 기판에 이온빔 조사를 통해서 제조한 IPS Cell의 특성에 관한 연구
- Received : 2012.11.09
- Accepted : 2012.12.03
- Published : 2012.12.31
Abstract
Nematic liquid crystal (NLC) alignment effects on SiOF layers via ion-beam (IB) irradiation for four types of incident energy were successfully studied. The effect of fluorine addition on silicon oxide film properties as a function of
최근 비접촉식 액정배향방법에 대한 요구가 산업계 전반으로 확산되면서, 기존의 UV 광배향을 비롯하여, 여러 가지 비접촉식 액정 배향방법이 활발히 연구되고 있다. 본 연구에서는 이러한 비접촉식 액정배향방법 중에서 SiOF 무기막에 이온빔을 정량적으로 조사하는 방법을 사용하여 액정을 배향하고, 이 기술을 사용하여, 상용화 수준의 IPS(In-Plane Switching) 방식의 액정 셀을 제작함으로써 전기광학 특성을 평가하였다. 특히 이러한 무기막 배향의 경우 배향안정성에 많은 문제를 가지고 있는 것이 보통이나, 본 연구에서 제안한 방법으로 제조된 평가셀은