References
- K. Nomura, H. Ohta, A. Takagi, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Nature, 432, 488 (2004). https://doi.org/10.1038/nature03090
- J. Y. Kwon, J. S. Jung, K. S. Son, K. H Lee, J. S. Park, T. S. Kim, J. S. Park, R. Choi, J. K. Jeong, B. W. Koo, and S. Y. Lee, J. Electrochem. Soc., 158, H433 (2011). https://doi.org/10.1149/1.3552700
- J. S. Park, T. S. Kim, K. S. Son, K. H. Lee, W. J. Maeng, H. S. Kim, E. S. Kim, K. B. Park, J. B. Seon, W. Choi, M. K. Ryu, and S. Y. Lee, Appl. Phys. Lett., 96, 262109 (2010). https://doi.org/10.1063/1.3435482
- S. Y. Lee, Y. W. Song, and S. P. Chang, Bulletin of KIEEME, 21, 3 (2008).
- J. K. Jeong, Information Display, 10, 42, (2009).
- E. M. C. Fortunato, L. M. N. Pereira1, P. M. C. Barquinha, A. M. B. do Rego, G. Gonçalves, A. Vilà, J. R. Morante, and R. F. P. Martins, Appl. Phys. Lett., 92, 222103 (2008). https://doi.org/10.1063/1.2937473
- W. F. Wu and B. S. Chiou, Thin Solid Films, 247, 201 (1994). https://doi.org/10.1016/0040-6090(94)90800-1
- E. Ziegler, A. Heirich, H. Oppermann, and G. Stover, Phys. Stat. Sol., A66, 635 (1981).
- J. S. Park, J. K. Jeong, Y. G. Mo, H. D. Kim, and C. J. Kim, Appl. Phys. Lett., 93, 033513 (2008). https://doi.org/10.1063/1.2963978
- J. K. Jeong, H. W. Yang, J. H. Jeong, Y .G. Mo, and H. D. Kim, Appl. Phys. Lett., 93, 123508 (2008). https://doi.org/10.1063/1.2990657
- E. C. Chong, K. C. Jo, and S. Y. Lee, Appl. Phys. Lett., 96, 152102 (2010). https://doi.org/10.1063/1.3387819