Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society (한국산학기술학회논문지)

The Korea Academia-Industrial cooperation Society (한국산학기술학회)
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TFT-LCD Mura Detection Algorithm Using Multi-point 2-D FFT

Multi-Point 2-D FFT를 이용한 TFT-LCD Mura 검출 알고리즘

  • Jang, Young-Beom (Department of Information Technology and Communications, SANGMYUNG UNIV.) ;
  • Kim, Han-Jin (Department of Information Technology and Communications, SANGMYUNG UNIV.)
  • 장영범 (상명대학교 정보통신공학과) ;
  • 김한진 (상명대학교 정보통신공학과)
  • Received : 2010.01.04
  • Accepted : 2010.04.09
  • Published : 2010.04.30
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Abstract

In this paper, we propose a new mura detection algorithm for TFT-LCD effectively, which is based on multi-point, 2-dimensional FFT. Since mura in TFT-LCD has a certain area shape, it is seen as a sin wave in a LCD line. Since shapes of mura can be seen a circle, horizontal oval, or vertical oval, it is shown that they can be detected by 2-dimensional FFT easily. Through simulation for test image, it is shown that proposed algorithm can detect various sizes of mura. The proposed algorithm can be utilized in automatic test equipment for effective TFT-LCD mura detection.

이 논문에서는 TFT-LCD의 제조공정에서 발생하는 mura를 효율적으로 검출하는 multi-point FFT를 기반으로 한, 2차원 FFT를 이용하는 새로운 전기적인 검출 방식을 제안한다. TFT-LCD의 mura 패턴은 어느 일정한 영역을 갖고 있으므로 어느 한 라인에서 관찰하면 sin 파의 모양으로 관찰된다. Mura의 모양은 원, 가로 타원, 세로 타원으로 분류할 수 있으며 2-D FFT 변환을 통하여 일정한 문턱치와 비교하면 mura를 쉽게 검출할 수 있음을 보인다. 실험영상의 simulation을 통하여 제안 알고리즘이 다양한 크기의 mura 패턴을 효과적으로 검출할 수 있음을 보였다. 따라서 제안된 알고리즘은 TFT-LCD mura의 자동 검사 시스템에 이용될 수 있을 것이다.

Keywords

References

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