References
- Rao, A. M.; Jacques, D.; Haddon, R. C.; Zhu, W.; Bower, C.; Jin, S. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 3813. https://doi.org/10.1063/1.126790
- Cha, O. H.; Jeong, M. S.; Byeon, C. C.; Jeong, H.; Han, J. H.; Choi, Y. C.; An, K. H.; Oh, K.; Kim, K. K.; Lee, Y. H. Carbon Lett. 2009, 10, 9. https://doi.org/10.5714/CL.2009.10.1.009
- Kwon, S. J. Jpn. J. Appl. Phys. 2007, 46, 5988. https://doi.org/10.1143/JJAP.46.5988
- Kim, Y. C.; Yoo, E. H. Jpn. J. Appl. Phys. 2005, 44, L454. https://doi.org/10.1143/JJAP.44.L454
- Nam, J. W.; Cho, S. H.; Choi, Y. C.; Ha, J. S.; Park, J. H.; Choe, D. H.; Yoo, J. B.; Park, J. H. Diamond Relat. Mater. 2005, 14, 2089. https://doi.org/10.1016/j.diamond.2005.08.049
- Choi, Y. C.; Jeong, K. S.; Han, I. T.; Kim, H. J.; Jin, Y. W.; Kim, J. M.; Lee, B. G.; Park, J. H.; Choe, D. H. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 263504. https://doi.org/10.1063/1.2217711
- Seelaboyina, R.; Huang, J.; Choi, W. B. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 194104. https://doi.org/10.1063/1.2203218
- Park, J. H.; Moon, J. S.; Nam, J. W.; Yoo, J. B.; Park, C. Y.; Kim, J. M.; Park, J. H.; Lee, C. G.; Choe, D. H. Diamond Ralat. Mater. 2005, 14, 2113. https://doi.org/10.1016/j.diamond.2005.08.063
- Qin, Y.; Hu, M. Appl. Surf. Sci. 2008, 254, 1757. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2007.07.174
- Kim, W. S.; Lee, J.; Jeong, T. W.; Heo, J. N.; Kong, B. Y.; Jin, Y. W.; Kim, J. M.; Cho, S. H.; Park, J. H.; Choe, D. H. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 163112. https://doi.org/10.1063/1.2099538
- Liang, X. H.; Deng, S. Z.; Xu, N. S.; Chen, J.; Huang, N. Y.; She, J. C. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 111501. https://doi.org/10.1063/1.2180439
- Zhu, X. Y.; Lee, S. M.; Lee, Y. H.; Frauenheim, T. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 2757. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.85.2757
- Purcell, S. T.; Vincent, P.; Journet C.; Binh, V. T. Phys. Rev. Lett. 2002, 88, 105502. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.88.105502
- Choi, G. S.; Son, K. H.; Kim, D. J. Microelectronic Engineering 2003, 66, 206. https://doi.org/10.1016/S0167-9317(03)00048-0
- Jankowski, A.; Hayes, J.; Morse, J.; Ferreira, J. Thin Solid Films 1999, 355, 194. https://doi.org/10.1016/S0040-6090(99)00515-5
- Choi, Y. C.; Shin, Y. M.; Lee, Y. H.; Lee, B. S.; Park, G. S.; Choi, W. B.; Lee, N. S.; Kim, J. M. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 2367. https://doi.org/10.1063/1.126348
- Lee, N. S.; Chung, D. S.; Han, I. T.; Kang, J. H.; Choi, Y. S.; Kim, H. Y.; Park, S. H.; Jin, Y. W.; Yi, W. K.; Yun, M. J.; Jung, J. E.; Lee, C. J.; You, J. H.; Jo, S. H.; Lee, C. G.; Kim, J. M. Diamond Relat. Mater. 2001, 10, 265. https://doi.org/10.1016/S0925-9635(00)00478-7
- Jeong, H. J.; Lim, S. C.; Kim, K. S.; Lee, Y. H. Carbon 2004, 42, 3065.