Abstract
In this paper describes the process of designing a protection circuit against an open or short electronic ballast. An open electronic ballast creates high voltages in a regular period, which a lies voltage stress on switching devices. On the other hand, a shorted output generates excessive current, causing problems such as heat generation in the ballast and reduced lifespan of semiconductor devices. This study proposes a protection circuit consisting of TTL and passive devices to resolve the problems. The proposed protection circuit offers the benefits of low cost and high reliability. The proposed circuit was connected to an actual ballast to demonstrate its applicability.
본 논문에서는 전자식 안정기의 출력이 개방 또는 단락되었을 경우에 대한 보호 회로를 설계하였다. 전자식 안정기의 출력이 개방되었을 경우 일정한 주기의 고전압이 발생하여 스위치 소자에 전압 스트레스를 가하게 된다. 또한 출력이 단락되었을 경우 과전류가 흐르게 되어 안정기 발열 및 반도체 소자의 수명 감소 등 문제가 발생하게 된다. 이를 해결하고자 TTL 소자 및 수동 소자로 구성된 보호 회로를 제안하였으며 제안된 보호 회로는 저단가 구현 및 높은 신뢰성의 장점이 있다. 제안된 보호 회로를 실제 안정기에 연결하여 상황별 실험을 통하여 유용함을 증명하였다.
