초록
본 논문에서는 유전체의 유전 상수를 결정하기 위하여 유전체 슬랩을 원통형 공진기에 삽입하여 측정하는 기술을 제안한다. 유전 상수는 빈 공진기와 유전체 슬랩이 삽입된 공진기의 공진 주파수 편차에 의해 측정된다. 특성 방정식은 정확한 필드 해석에 의해 정의되었다 측정 장치는 HP8719A 벡터 네트웍 분석기와 금속 재질의 원통형 공동 공진기를 이용하였다. 이론적인 증명은 실험과 3D 시뮬레이터인 CST사의 MWS 4.0에 의해 확인되었다. 측정 된 결과는 전반적으로 만족하였다. 측정 된 테플론과 베이클라이트의 비유전율은 각각 2.03과 4.44이다.
In this paper, dielectric slab loaded cylindrical cavity resonator measurement technique is presented to determine the dielectric constant of a dielectric material. The dielectric constant is measured by the resonant frequency deviation of empty and dielectric slab loaded cavity. Characteristic equations are derived by th exact field analysis. The measurement configurations are formed using HP8719A vector network analyzer and an experimental cylindrical metallic cavity with circular cross-section. The validity of the theory is confirmed by experiments and CST MWS 4.0(3D simulator). The results were in the whole satisfactory. The measured dielectric constant of teflon and bakelite are 2.03 and 4.44, respectively.