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형광램프를 오랜 기간 사용하게 되면 전극에서 열 전자 방출을 돕는 보조 물질이 램프 외벽으로 흡수되어 램프 점등 조건 및 정상 상태 조건이 변화하게 된다. 이러한 경우를 오랜 시간 방치한다면 램프 전극에서 과도한 열이 발생하게 되어 등 기구 소켓을 녹이는 안전사고가 발생할 가능성이 크다. 본 논문은 형광램프 수명 말기에 나타나는 현상(정류 효과)을 검출하고, 이로부터 안정기를 보호하기 위한 방법을 제시하였다.
This paper presents the new detection method for the end of life on fluorescent lamps. At the end of lamp life, the lamp voltage and current asymmetrically increase and decrease more than normal state. If the ballast system does not have the protection function especially for T4 and T5 lamps, we may see the melting socket which is connected to the end of the lamp. To protect from this kind of abnormal status is the most important thing in the ballast system that has very old lamps.