References
- S. H. Lee, S. L. Lee, and H. Y. Kim, Appl. Phys. Lett. 73, 2881 (1998) https://doi.org/10.1063/1.122617
- M. Oh-e and K. Kondo, Appl. Phys. Lett. 67, 3895 (1995) https://doi.org/10.1063/1.115309
- H. Wakemoto, S. Asada, N. Kato, Y. Yamamoto, M. Tsukane, T. Tsurugi.. K. Tsuda and Y. Takubo, in SID Int. Symp. Tech. Dig. (1997), p. 929
- H. Y. Kim, G. R. Jeon, D.-S. Seo, M.-H. Lee, and S. S. Lee, Jpn. J. Appl. Phys. 41, 2944 (2002) https://doi.org/10.1143/JJAP.41.2944
- A. Takeda, S. Kataoka, T. Sasaki, H. Chida, H. Tsuda, K. Ohmuro, Y. Koike, T. Sasabayashi, and K. Okamoto, in SID Int. Symp. Tech. Dig. (1998), p. 1077
- K. H. Kim, K. Lee, S. B. Park, J. K. Song, S. N. Kim, and J. H. Souk, Proc. IDRC'98. (1998), p. 383
- S. S. Kim, B. Berkeley, K. H. Kim and J. K. Song, Journal of the SID, 12 (2004)
- S. S. Kim, in SID Int. Symp. Tech. Dig. (2005), p. 1842