DOI QR코드

DOI QR Code

InGaN/GaN 다중 양자우물 구조에서의 결정상 분리 현상 연구

Phenomenological Study on Crystal Phase Separation in InGaN/GaN Multiple Quantum Well Structures

  • 이상준 (한국표준과학연구원 전략기술연구부 양자점기술 국가지정연구실) ;
  • 김준오 (한국표준과학연구원 전략기술연구부 양자점기술 국가지정연구실) ;
  • 김창수 (한국표준과학연구원 전략기술연구부 양자점기술 국가지정연구실) ;
  • 노삼규 (한국표준과학연구원 전략기술연구부 양자점기술 국가지정연구실) ;
  • 임기영 (전북대학교 반도체과학기술학과)
  • Lee, S.J. (NRL on Quantum-Dot Technology, Division of Advanced Technology Korea Research Institute of Standards and Science) ;
  • Kim, J.O. (NRL on Quantum-Dot Technology, Division of Advanced Technology Korea Research Institute of Standards and Science) ;
  • Kim, C.S. (NRL on Quantum-Dot Technology, Division of Advanced Technology Korea Research Institute of Standards and Science) ;
  • Noh, S.K. (NRL on Quantum-Dot Technology, Division of Advanced Technology Korea Research Institute of Standards and Science) ;
  • Lim, K.Y. (Department of Semiconductor Science and Technology Chonbuk National University)
  • 발행 : 2007.01.31

초록

양자우물의 두께가 다른 4종류의 $In_xGa_{1-x}N(x=0.15)/GaN$ 다중 양자우물 구조의 PL 스펙트럼을 분석하여 InGaN에서의 결정상 분리 현상을 조사하였다. 우물폭이 1.5 nm에서 6.0 nm로 증가함에 따라, PL스펙트럼은 비대칭성이 점점 강해지는 이중 피크의 특성을 나타내었다. 곡선맞춤을 수행하여 분리한 2개의 피크를 분석하여, InGaN 우물에서의 부준위 천이에 해당하는 고에너지 피크의 세기는 줄어드는 반면, 상분리에 의하여 생성된 저에너지 피크의 강도는 점점 강해짐을 볼 수 있었다. 이것은 InGaN 우물에는 In 조성이 다소 다른 2개의 결정상이 존재하여, 우물폭 증가와 함께 InN 상분리가 강해지면서 In 조성이 큰(In-rich) InGaN 결정상이 상대적으로 증대됨을 보여 주는 결과로 해석된다. 우물 두께가 6.0 nm인 시료에서는 저에너지 영역(${\sim}2.0eV$)에서 또 하나의 피크이 관측되었는데, 이것은 GaN에서 잘 알려져 있는 결함에 기인한 황색준위(YB)와 그 근원이 같은 것으로, InN의 상분리가 임계값 이상으로 발달하여 생성된 결함과 관련된 준위인 것으로 해석된다.

We have investigated photoluminescence(PL) spectra of four $In_xGa_{1-x}N(x=0.15)/GaN$ multiple quantum well(MQW) structures with different well widths in order to study a phenomenon on crystal phase separation. The asymmetic behavior of PL spectra becomes stronger with increase of the well width from 1.5 nm to 6.0 nm, which indicates dual-peak nature. Analyzing the dual-peak fit PL spectra, we have observed that the intensity of low-energy shoulder peak rapidly becomes stronger, compared to that of high-energy peak corresponding to a transition in InGaN QW. It suggests that InGaN QW has two phases with tiny different In compositions, and that In-rich(InN-like) phase forms more and more relatively than stoichiometric InGaN(x=0.15) phase by the InN phase separation mechanism as the QW width increases. PL spectrum of 6.0-nm sample shows an additional peak at low-energy lesion(${\sim}2.0\;eV$) whose energy position is almost the same as a defect band of yellow luminescence frequently observed in GaN epilayers. It may be due to a defect resulted from In deficiency formed with development of the phase separation.

키워드

참고문헌

  1. S. Nakamura and S. F. Chichibu, Introduction to Nitride Semiconductor Blue Lasers and Light Emitting Diodes (London, Taylor & Francis, 2000)
  2. R. Ascazubi, I. Wilke, K. Denniston, H. Lu, and W. J. Schaff, Appl. Phys. Lett. 84, 4810 (2004) https://doi.org/10.1063/1.1759385
  3. K. Kyhm, R. A. Taylor, J. F. Ryan, B. Beaumont, and P. Gibart, J. Korean Phys. Soc. 45, S526 (2004)
  4. S. G. Yu, T. W. Jeong, S. H. Lee, J. N. Heo, J. H. Lee, C. J. Lee, J. Y. Kim, H. S. Lee, Y. P. Kuk, and J. M. Kim, J. Korean Vac. Soc. 15, 499 (2006)
  5. F. Widmann, J. Simon, B. Daudin, G. Feuillet, J. L. Rouviere, N. T. Pelekanos, and G. Fishman, Phys. Rev. B58, R15989 (1998)
  6. G. Bais, A. Cristofoli, F. Jabeen, M. Piccin, E. Carlino, S. Rubini, F. Martelli, and A. Franciosi, Appl. Phys. Lett. 86, 233107-1 (2005) https://doi.org/10.1063/1.1944899
  7. L. W. Ji, Y. K. Su, S. J. Chang, S. T. Tsai, S. C. Hung, R. W. Chuang, T. H. Fang, and T. Y. Tsai, J. Vac. Sci. Technol. A22, 792 (2004)
  8. N. Preschilla, S. Major, N. Kumar, I. Samajdar, and R. S. Srinivasa, Appl. Phys. Lett. 77, 1861 (2000) https://doi.org/10.1063/1.1311595
  9. P. R. Edwards, R. W. Martin, I. M. Watson, C. Liu, R. A. Taylor, J. H. Rice, J. H. Na, J. W. Robinson, and J. D. Smith, Appl. Phys. Lett. 85, 4281 (2004) https://doi.org/10.1063/1.1815043
  10. B. Damilano, N. Grandjean, F. Semond, J. Massies, and M. Leroux, Appl. Phys. Lett. 75, 962 (1999) https://doi.org/10.1063/1.124567
  11. B. Daudin, C. Adelmann, N. Gogneau, E. Sarigiannidou, E. Monroy, F. Fossard, and J. L. Rouviere, Physica E21, 540 (2004)
  12. M.D. McCluskey, L.T. Romano, B.S. Krusor, D.P. Bour, N.M. Johnson, and S. Brennan, Appl. Phys. Lett. 72, 1730 (1998) https://doi.org/10.1063/1.121166
  13. R. Singh, D. Doppalapudi, T.D. Moustakas, and L.T. Romano, Appl. Phys. Lett. 70, 1089 (1997) https://doi.org/10.1063/1.118493
  14. Y. H. Kim, C. S. Kim, S. K. Noh, J. Y. Leem, K. Y. Lim, and B. S. O, Sae Mulli 43, 82 (2001)
  15. Y. Narukawa, Y. Kawakami, M. Funato, S. Fujita, S. Fujita, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 70, 981 (1997) https://doi.org/10.1063/1.118455
  16. K.P. O'Donnell, R.W. Martin, and P.G. Middleton, Phys. Rev. Lett. 82, 237 (1999) https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.82.237
  17. I.-H. Lee, I. H. Choi, C. R. Lee, and S. K. Noh, Appl. Phys. Lett. 71, 1359 (1997) https://doi.org/10.1063/1.119893
  18. S. Adachi, Properties of Group-IV, III-V and II-VI Semiconductors (Chichester, John Wiley & Sons, 2005), pp.80-86
  19. D. Kapolnek, X. H. Wu, B. Heying, S. Keller, B. P. Keller, U. K. Mishra, S. P. DenBaars, and J. S. Speck, Appl. Phys. Lett. 67, 1541 (1995) https://doi.org/10.1063/1.114486
  20. H. Amano, T. Takeuchi, S. Sota, H. Sakai, and I. Akasaki, Proc. Mater. Resear. Soc. Symp. 449, 1143 (1997)