Local Characterization by Atomic Force Microscopy (AFM)

Atomic Force Microscopy (AFM)를 이용한 국부적 특성 평가

  • 유경희 (국민대학교 신소재공학부) ;
  • 최유정 (국민대학교 신소재공학부) ;
  • 신현정 (국민대학교 신소재공학부)
  • Published : 2007.10.31