개방 단말 동축선 프로브의 유한한 접지판이 PCB 기판의 복소 유전율 환산에 미치는 영향

The Effect of Finite Flange of Open-Ended Coaxial Probe on the Converted Complex Permittivity of PCB Substrate

  • 정지현 (고려대학교 전파공학과) ;
  • 김영식 (고려대학교 전파공학과) ;
  • 김세윤 (한국과학기술연구원 영상미디어 연구센터)
  • Jung Ji-Hyun (Department of Radio Science and Engineering, Korea University) ;
  • Kim Young-Sik (Department of Radio Science and Engineering, Korea University) ;
  • Kim Se-Yun (Imaging Media Research Center, Korea Institute of Science and Technology)
  • 발행 : 2006.01.01

초록

개방 단말 동축선 프로브를 사용하여 측정된 PCB 기판과 같은 박막인 유전체의 반사 계수로부터 복소 유전율을 환산하기 위해 모드 해석과 영상 전원을 써서 적분 방정식을 유도하였다. 적분 방정식에 근거한 환산 모델의 정확성은 수치 계산된 반사 계수와 측정을 통해 구한 반사 계수로부터의 복소 유전율 환산으로 확인하였다. 또한 개방 단말 동축선 프로브의 유용한 최대 주파수는 접지판의 크기에 제한 받음을 알 수 있었다.

To construct its complex permittivity from the reflection coefficient of a thin film such as PCB substrate measured by open-ended coaxial probe, an integral equation is formulated using modal analysis and equivalent source. The accuracy of the conversion model based on the integral equation is confirmed in both cases of converted complex permittivities calculated from numerically computed and actually measured reflection coefficients. And the maximum valid frequency of open-ended coaxial probe is limited by the size of its flange.

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참고문헌

  1. 신현, 현승엽, 김상욱, 김세윤, '복소유전율 측정용 개방단말 동축선 프로브의 새로운 등가모델', 추계마이크로파 및 전파 학술대회 논문집, 22(2), pp. 143-146, 1999년
  2. 신현, '개방단말 동축선 프로브를 이용한 매질의 특성 측정', 고려대학교 석사학위 논문, 1999년
  3. M.-Y. Chen, J.-P. Yu, and D.-M. Xu, 'Measurement of complex permittivity of thin substrates using the resonant cavity', IEEE Microwave and Optical Technol. Lett., vol. 42, no. 4, pp. 274-277, Aug. 2004 https://doi.org/10.1002/mop.20276
  4. M.-Q. Lee, S. Nam, 'An accurate broadband measurement of substrate dielectric constant', IEEE Microwave and Guided Wave Lett., vol. 6, no. 4, pp. 168-170, Apr. 1996 https://doi.org/10.1109/75.481077
  5. 정지현, 주유선, 김세윤, '모멘트 방법을 사용한 PCB 기판의 유전율 확산', 한국전자파학회논문지, 16(2), pp. 222-227, 2005년 2월
  6. J. H. Jung, S. Y. Kim, 'Complex permittivity of thin PCB substrate measured by open-ended coaxial probe', ISAP, vol. 2, pp. 797-800, 2005
  7. C. A. Balanis, Advanced Engineering Electromagnetics, John Wiley & Sons: New York, 1989
  8. D. K. Misra, 'On the measurement of the complex permittivity of materials by an open-ended coaxial probe', IEEE Microwave and Guided Wave Lett., vol. 5, no. 5, pp. 161-163, May 1995 https://doi.org/10.1109/75.374085