References
- L. Peters, Semicond. Int., May (2001)
- R. H. Baney, M. Itoh, A. Sakakibara, and T. Suzuki, Chem. Rev., 95, 1409 (1995) https://doi.org/10.1021/cr00037a012
- J. K. Lee, K. Char, H. W. Rhee, H. W. Ro, D. Y. Yoo, and D. Y. Yoon, Polymer, 42, 9058 (2001) https://doi.org/10.1016/S0032-3861(00)00352-9
- C. J. Hawker, J. L. Hedrick, R. D. Miller, and W. Volksen, MRS Bull., April, 54 (2000)
- S. Yang, P. A. Mirau, C. S. Pai, O. Nalamasu, E. Reichmanis, J. C. Pai, Y. S. Obeng, J. Seputro, E. K. Lin, H. J. Lee, J. Sun, and D. W. Gidley, Chem. Mater., 14, 369 (2002) https://doi.org/10.1021/cm010690l
- S. Kim, Y. Toivola, R. F. Cook; K. Char, S. H. Chu, J. K. Lee, D. Y. Yoon, and H. W. Rhee, J. Electrochem. Soc., 151, F37 (2004) https://doi.org/10.1149/1.1643072
- J. H. Lee, Y. Y. Lyu, M. S. Lee, J. H. Hahn, J. H. Rhee, S. K. Mah, J. H. Vim, and S. Y. Kim, Macromol. Mater. Eng., 289, 164 (2004) https://doi.org/10.1002/mame.200300182
- C. V. Nguyen, K. R. Carter, C. J. Hawker, J. L. Hedrick, R. L. Jaffe, R. D. Miller, J. F. Remenar, H. W. Rhee, P. M. Rice, M. F. Toney, M. Trollsas, and D. Y. Yoon, Chem. Mater., 11, 3080 (1999) https://doi.org/10.1021/cm990114d
- Y. Toivola, S. Kim, R. F. Cook, K. Char, S. H. Chu, J. K. Lee, D. Y. Yoon, and H. W. Rhee, J. Electrochem. Soc., 151, 45 (2004)
- E. F. Connor, L. K. Sundberg, H. C. Kim, J. J. Cornelissen, T. Magbutang, P. M. Rice, V. Y. Lee, C. J. Hawker, W. Voklsen, J. L. Hedrick, and R. D. Miller, Angew. Chem. Int. Ed., 42, 3785 (2003) https://doi.org/10.1002/anie.200350930
- J. Vim, Y. Y. Lyu, H. Jeong, S. A. Song, I. Hwang, J. H. Lee, S. K. Mah, S. Chang, J. Park, Y. F. Hu, J. N. Sun, and D. W. Gidley, Adv. Funct. Mater., 13, 382 (2003) https://doi.org/10.1002/adfm.200390003
- J. Vim, J. Seon, H. Jeong, L. S. Pu, M. R. Banklanov, and D. W. Gidley, Adv. Funct. Mater., 14, 277 (2004) https://doi.org/10.1002/adfm.200305019
- J. Vim, M. R. Banklanov, D. W. Gidley, H, Peng, H. Jeong, and L. S. Pu, J. Phys. Chem. B, 108, 8953 (2004) https://doi.org/10.1021/jp035904w
- S. Mikoshiba and S. Hayase, J. Mater. Chem., 9, 591 (1999) https://doi.org/10.1039/a807068g
- A. M. Padovani, L. Rhodes, S. A. B. Allen, and P. A. Kohl, J. Electrochem. Soc., 149,161 (2002) https://doi.org/10.1149/1.1515281
- S. Yu, T. K. S. Wong, X. Hu, K. Pita, and V. Ligatchev, J. Electrochem. Soc., 151, FI23 (2004) https://doi.org/10.1149/1.1631820
- H. W. Ro, K. J. Kim, P. Theato, D. W. Gidley, and D. Y. Yoon, Macromolecules, 38, 1031 (2005) https://doi.org/10.1021/ma048353w
- M. R. Eftink, M. L. Andy, K. Bystrom, H. D. Perlmutter, and D. S. Kristol, J. Am. Chem. Soc., 111, 6765 (1989) https://doi.org/10.1021/ja00185a031
- B. S. Jursic, J. Chem. Soc., Perkin Trans., 2, 369 (1999)
- B. J. Cha, S. Kim, K. Char, J. K. Lee, D. Y. Yoon, and H. W. Rhee, Chem. Mater., submitted
- C. Y. Wang, Z. X. Shen, and J. Z. Zheng, Appl. Spectrosc., 54, 209 (2000) https://doi.org/10.1366/0003702001949410