Line-Edge Detection Using New 2-D Wavelet Function

새로운 2-D 웨이브렛 함수를 이용한 라인-에지 검출

Points of sharp variations in image are the most important components when we analyze the features of image. And they include a variety of information about image's shape and location etc. So a lot of researches for detecting edges have been continued. Edge detection operators which were used at the early stage of the research were to utilize relations among neighboring pixels. These methods detect edge at all boundaries, therefore they perform edge detection twice about curves below some width such as line-edge. In the meantime, wavelet transform which is presented as a new technique of signal processing field provides multiscale edge detection and is being applied widely in many fields that analyze edge-like characteristic. Therefore, in this paper we detected line-edge with new 2-D wavelet function which is independent of line's width.

영상에서 신호가 급격히 변화하는 지점은 영상의 특징을 분석함에 있어서 가장 중요한 요소이며, 영상의 위치와 모양 등에 대한 다양한 정보를 포함하고 있다. 그러므로, 이러한 에지를 검출하기 위한 많은 연구가 이루어져 왔으며, 초기에 사용한 에지 검출 연산자는 인접한 화소들 사이에 대한 관계를 이용하는 것이었다. 이 와 같은 방법들은 모든 경계 지점에서 에 지를 검출하므로, 라인-에지와 같은 일정한 폭 이하의 곡선에 대해서도 에지의 중복 검출을 수행한다. 한편, 최근 신호처리 분야에서 새로운 기법으로 제시된 웨이브렛 변환은 멀티스케일 에지 검출이 가능하며, 영상에서 에지를 포함한 특징들을 분석하는 분야에 널리 응용되고 있다. 따라서, 본 논문에서는 라인 폭에 의존하지 않는 새로운 2-D 웨이브렛 함수를 사용하여, 영상에 존재하는 다양한 폭의 곡선에서 라인-에지 성분을 검출하였다.