마이크로전자및패키징학회지 (Journal of the Microelectronics and Packaging Society)
- 제11권4호
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- Pages.61-67
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- 2004
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- 1226-9360(pISSN)
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- 2287-7525(eISSN)
표면에칭효과에 의한 산화알루미늄 유전체의 정전용량 특성
Dielectric Characteristics of Alumina by Surface Etching Effects
- Oh Han-Jun (Dept of Materials Science and Engineering, Hanseo University) ;
- Park Chi-Sun (Dept of Electronic Engineering, Hanseo University)
- 발행 : 2004.12.01
초록
알루미늄 유전체의 표면적 증가에 의한 정전용량 값을 증가시키기 위하여, 1 M의 염산 에칭용액에 첨가제를 사용했을 때 나타나는 알루미늄 표면의 에칭특성의 변화를 조사하였다. 에칭액으로서 염산을 사용한 경우 알루미늄 표면에서 생성되는 에치피트의 형상과 단위 면적당 생성밀도가 균일하지 못하였다. 염산용액에 에틸렌글리콜이 첨가된 혼합용액에서 에칭을 실시했을 경우, 알루미늄 기지 표면에 미세하고 균일한 에치피트가 형성되어 표면적 증가의 효과가 크게 나타났다. 에틸렌글리콜이 첨가된 에칭액에서 제조된 유전체는 표면적 증가에 의한 효과로 높은 정전용량 값을 나타냈다.
The structural, electrical properties of the electrolytic capacitors were examined. By the addition of additives to hydrochloric acid solution increased the dielectric aluminum surface layer. For etch tunnels formed in hydrochloric acid, the away and density of the tunnels was not uniform, while for those formed in hydrochloric acid with additives the distribution presented relative uniformity. When the etched surface formed in hydrochloric acid with