Journal of the Microelectronics and Packaging Society (마이크로전자및패키징학회지)
- Volume 11 Issue 3 Serial No. 32
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- Pages.55-62
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- 2004
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- 1226-9360(pISSN)
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- 2287-7525(eISSN)
The Oxidation Study of Pure Tin via Electrochemical Reduction Analysis
전기화학적 환원 분석을 통한 Sn의 산화에 대한 연구
- Cho Sungil (Center for Electronic Packaging Materials, Department of Materials Science and Engineering Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)) ;
- Yu Jin (Center for Electronic Packaging Materials, Department of Materials Science and Engineering Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)) ;
- Kang Sung K. (IBM T. J. Watson Research Center) ;
- Shih Da-Yuan (IBM T. J. Watson Research Center)
- Published : 2004.09.01
Abstract
The oxidation of pure Sn and high Pb-Sn alloys was investigated under different oxidizing conditions of temperature and humidity. Both the chemical nature and the amount of oxides were characterized using electrochemical reduction analysis by measuring the electrolytic reduction potential and total transferred electrical charges. For pure tin, SnO grew faster under humid condition than in dry air at
여러 가지 온도와 습도에 따라 Sn의 표면에 형성되는 산화물을 전기화학적 환원방법을 이용해 분석하였다. 전기화학적 방법을 이용하여 금속표면에 형성된 산화물을 환원시킬 때 나타나는 환원전위와 소모된 전하량을 측정하여 표면 산화물의 종류와 양을 정량적으로 분석하였다 우선 전기화학적 환원 방법이 금속 표면 산화물의 분석에 적합한지 알아보기 위해 여러 가지 산화물 분말의 환원 전위와 수소 발생 전위를 측정하였고, 분석을 위한 최적의 전류밀도 값을 구하였다. Sn 표면에 생성된 산화물을 분석한 결과