반도체 초미세 공정호와 F$_2$(157 nm) 포토레지스트용 고분자의 개발 동향

  • 김재현 ((주)동진쎄미켐 전자재료사업부 사업3부) ;
  • 김덕배 ((주)동진쎄미켐 전자재료사업부 사업3부)
  • Published : 2003.02.01