The Enhancement of the Defects Image in Solid by Increasing Vertical-Support Base for SFR(Spatial Frequency Response)

공간주파수응답의 수직기저대역 확장에 의한 고체 내부의 결함영상 개선

Conventionally, we have used an acoustic microscope at single operating frequency. The resolution and quality of the measured images are determined by transducer of the microscope. In this paper, we have studied Vertical Resolution Enhancement with Acoustic Reflection Microscope using combining bases of support for SFR(Spatial Frequency Response). Increased Vertical resolution can be obtained by taking three-dimensional images at more that one frequency and numerically combining the results. As results of the experiment, we could get enhanced images with the rate of contrast in proportion to the changing rate of depth.

일반적으로 초음파현미경시스템은 동작주파수로 단일 주파수를 사용해 왔다. 측정된 영상의 분해능과 질은 초음파현미경에서 사용된 초음파변환기에 의하여 결정된다. 본 논문에서는 SFR(Spatial Frequency Response)의 기저대역 조합을 통하여 반사형 초음파현미경의 수직분해능 개선에 대하여 연구하였다. 수직 분해능을 증가시키기 위해서는 하나 이상의 동작 주파수에서 얻어진 영상을 획득하고 이를 대수적으로 합성시켜 얻어진다. 실험결과 깊이 변화율이 개선된 영상들을 얻을 수 있었다.