Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD (대한전자공학회논문지SD)

The Institute of Electronics and Information Engineers (대한전자공학회)
권호 표지

Design of Phone Card IC with Security and Self-test Features

자체 테스트 및 보안기능을 갖는 공중전화 카드 IC 설계

  • Park, Tae-Geun (Department of Computer & Electronic Engineering The Catholic University of Korea)
  • 박태근 (가톨릭大學校 컴퓨터 電子工學部)
  • Published : 2000.01.01
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Abstract

This paper proposes a design of phone card IC with the self-test features and the hardware and software security functions. We design and verify the proposed functions with modeling the terminal system environment. The proposed phone card IC provides instructions and a non-volatile memory block containing the manufacturer / issuer / user information, the unit (money) value, and the security key. The self-test functions are designed to improve the test time degradation due to a serial I/O communication. Also some security features are implemented using hardware and software approaches.

본 논문에서는 자체 테스트기능과 보안기능을 각춘 공중전화 가드 IC를 검증함으로써 향후 공중전화 시스템의 국산화에 응용 가능성을 확인한다. 본 연구에서 설계된 공중전화용 IC는 개의 명령어를 지원하고 금액 등 여러 가지 정보를 저장할 수 있는 비휘발성 메모리를 갖는다. 하나의 직렬 I/O로써 이루어지는 외부와의 통신 때문에 야기되는 테스트 시간 문제를 보완하기 위해 대부분의 테스트가 칩 내부에서 동작하도록 자체 테스트 기능을 추가하였다. 또한 여러 가지 보안기능이 소프트웨어, 하드웨어적으로 구현되었다.

Keywords

References

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