Optical Property of Au-doped $TIO_2/SiO_2$ thin film

금 나노미립자가 함침된 $TiO_2/SiO_2$ 박막의 광학적 성질

  • Jung, Mie-Won (Department of chemistry, Sungshin Women's University) ;
  • Kim, Ji-Eun (Department of chemistry, Sungshin Women's University) ;
  • Lee, Kyung-Chul (Basic Science Research Institute, Sungkunkwan University)
  • 정미원 (성신여자대학교 자연과학대학 화학과) ;
  • 김지은 (성신여자대학교 자연과학대학 화학과) ;
  • 이경철 (성균관대학교 기초과학 연구소)
  • Published : 2000.02.20

Abstract

The wavelength of the surface plasmon absorption depends on the dielectric matrix. $TiO_2/SiO_2$ complex oxide films doped with Au nanoclusters were prepared by sol-gel spin-coating method using $Ti(OPr^i)_4$, $Si(OEt)_4$, and $HAuCl_4{\cdot}7H_2O$. The wavelength of the maximum absorption of Au nanoehrsters in the $TiO_2/SiO_2$ thin films was obtained with lineality from 540 nm to 615 nm depending on the molar ratio of $TiO_2$. The particle sizes and structures of these nanoclusters have been identified through a TEM and X-ray diffraction patterns. The dielectric constants of $TiO_2/SiO_2$ thin films were calculated from the experimental results.

표면공명흡수는 매질의 유전상수값에 의존한다. 금 나노미립자가 함침된 $TiO_2/SiO_2$ 복합산화물 박막을 $Ti(OPr^i)_4$$Si(OEt)_4$, 그리고 $HAuCl_4{\cdot}7H_2O$를 사용하여 졸-겔 방법으로 제조하였다. $TiO_2/SiO_2$ 박막에 함침된 금 나노미립자의 최대 표면 공명 흡수는 $TiO_2/SiO_2$의 몰비에 따라 540 nm에서 615 nm 까지 선형적으로 변하였다. 이러한 박막에 함침된 금 나노미립자의 크기와 구조를 TEM과 XRD로 측정하였다. 그리고 $TiO_2/SiO_2$ 박막의 유전상수값을 실험 data로부터 이론적으로 계산하였다

Keywords