한국통신학회논문지 (The Journal of Korean Institute of Communications and Information Sciences)

한국통신학회 (The Korean Institute of Commucations and Information Sciences)
권호 표지

IEEE 1149.1을 기반으로 하는 테스트 시스템을 위한 테스트 버스 콘트롤러의 설계 및 구현

Design and Implementation of A Test Bus Controller for IEEE 1149.1- Based Test System

  • 조용태 (중앙대학교 전자전기공학부) ;
  • 정득수 (중앙대학교 전자전기공학부) ;
  • 송오영 (중앙대학교 전자전기공학부)
  • 발행 : 2000.11.01
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초록

본 논문은 보드 레벨 테스팅 및 경계주사기법의 응용을 위한 테스트 버스 콘트롤러의 설계와 구현에 관해 다룬다. 테스트 버스 콘트롤러는 프로세서와 인터페이스를 통하여 IEEE 1149.1 테스트 버스를 제어하기 위한 칩이다. 최근 들어 IEEE 1149.1은 여러 분야에서 응용되어지고 있어서 다양한 응용분야에 적합한 테스트 버스 콘트롤러의 설계가 요구된다. 보드 레벨 테스팅을 위해서 SVF에 정의된 테스트를 수행할 수 있어야 하며, System-on-a-Chip (SoC) 설계 방식에서 내장되어지기 위해서는 작은 칩 크기와 높은 고장 검출률을 가져야 한다. 본 논문에서 구현된 칩은 기존의 테스트 장비에서 널리 쓰이는 SVF에 정의된 테스트를 모두 지원하며, 12k 게이트 정도의 크기를 가진다. 또한 독립적인 칩으로 쓰일 경우는 테스트 버스 콘트롤러가 버스 슬래이브로 쓰일 수 있으므로 IEEE 1149.1 테스트 회로를 가지도록 설계하였다.

키워드

참고문헌

  1. IEEE Std.1149.1-1990 IEEE Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture
  2. Digital System Testing and Testable design Miron Abramovici;Melvin A. Breuer;Arthur D. Friedman
  3. The Test Access Port And Boundary Scan Architecture Colin M. Maunder;Rodham E. Tulloss
  4. UltraSPARC-Ⅰ Emulation James Gately;Miriam Blatt;Dennis Chen;Scott Cooke
  5. ARM System Architecture Steve Furber
  6. In-System Programming: A Major New Application of Boundary Scan Dave Bonnett
  7. Serial Vector Format Specification Revision D
  8. International test conference A Proposed Method of Accessing 1149.1 in a Backplane Environment Lee, Whetsel
  9. Proc. of International Test Conference Hierarchically Accessing 1149.1 Applications in a System Environment Lee, Whetsel
  10. IEEE Transactions on Industrial Electronics A Universal Test and Maintenance Controller for Modules and Boards Jung-Cheun Lien;Melvin A. Breuer