전기화학회지 (Journal of the Korean Electrochemical Society)
- 제3권2호
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- Pages.104-108
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- 2000
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- 1229-1935(pISSN)
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- 2288-9000(eISSN)
DOI QR Code
STM 이미지와 산소 흡탈착 그리고 N-docosyl-N'-methyl viologen의 흡착으로부터 구한 다결정 금 전극 표면의 거칠기의 비교
Comparison of Roughnesses of Polycrystalline Gold Electrode Calculated from STM Images, Oxygen Adsorption-Desorption and Adsorption of N-Docosyl-N'-methyl Viologen
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Lee Chi-Woo
(Division of Natural Sciences, College of Sciences & Engineering, Korea University) ;
- Jang Jai-Man (Division of Natural Sciences, College of Sciences & Engineering, Korea University)
- 발행 : 2000.05.01
초록
전기화학에 있어서 전극 물질의 실제 거칠기(real roughness)를 아는 것은 매우 중요하다. 그러나 여러 가지 이유 때문에 전극 물질의 절대적인 거칠기를 아는 것은 불가능하다. 여기에서는 scanning tunneling microscopy (STM), 순환전압전류법을 이용하여 전기화학에서 자주 사용하는 다결정 금 전극의 거칠기를 구하여 Au(111), HOPG로부터 구한 거칠기와 비교해 보았다. STM으로부터 얻은 다결정 금전극의 거칠기는
It is very important to know the real roughness of electrode surface in electrochemistry. But it is impossible to know absolute roughness of electrode surface for various reasons. In this work, we compared the roughnesses of polycrystalline gold electrode often used in electrochemistry calculated from the images of scanning tunneling microscopy (STM) and cyclic voltammetry with those of Au (111) and HOPG. The roughness of polycrystalline gold calculated from STM image was