An Examination of Fault Exposure Rate of Switching Software of TDX Series from Empirical failure data

선험적 고장 데이터에 의한 TDX 계열 교환 소프트웨어의 결함 검출율 분석

소프트웨어의 결함 검출율(FER : Fault Exposure Ratio)은 소프트웨어에 대한 시험의 효율성과 고장 당결함 발생율(per fault hazard rate)을 제어하는데 매우 중요한 요소이다. 특히 시험이 불규칙적으로 수행될 때 고장 발견은 더욱 어려워진다. 시험이 종료되는 단계에서 소프트웨어 결함 검출율이 낮은 경우는 시험의 유효성을 기대하기 어렵기 때문이다 일반적으로 결함 검출율(K)이 점차 높아지는 시험 종료 단계에서는 Random Test 보다는 강도 높은 실 시험이 수행되기 때문이다. 이런 가정하에 본 논문에서는 TDX 교환 소프트웨어의 결함 검출율을 추정하여 이를 기반으로 한 ATM 소프트웨어의 결함 검출율을 예측하고 또한 소프트웨어 신뢰도가 향상되어 가는 과정에 대해 논했다..