Journal of KIISE:Computer Systems and Theory (한국정보과학회논문지:시스템및이론)

Korean Institute of Information Scientists and Engineers (한국정보과학회)
권호 표지

Generation of Test Sequence in TTCN with Test Purpose

시험 목적을 고려한 TTCN 형태의 시험열 생성기법

  • U, Seong-Hui (Dept.of Computer Science, Chongju National College) ;
  • Lee, Hyeon-Jeong (Dept. of Computer Science, Chungbuk National University) ;
  • Gwak, Byeong-Ok (Dept. of Computer Science, Chungbuk National University) ;
  • Lee, Sang-Ho (Dept. of Computer Engineering, Chungbuk National University)
  • 우성희 (청주과학대학 컴퓨터과학과) ;
  • 이현정 (충북대학교 전자계산학과) ;
  • 곽병옥 (충북대학교 전자계산학과) ;
  • 이상호 (충북대학교 컴퓨터공학과)
  • Published : 1999.02.01

⟨ Previous Next ⟩

Abstract

기존의 연구는 FSM을 기본으로 제어흐름만을 분석하거나 시험목적을 시험열 생성 단계에서 고려하지 않음으로써 시험열의 실제 적용에 있어 많은 문제점을 갖는다. 따라서 이 연구에서는 SDL로 기술된 프로토콜 명세서를 시멘틱 모델인 LTS로 변환 후 LTS로부터 서브투어 단위로 시험열을 생성하였다. 그리고 생성된 시험열을 TTCN으로 변환하고 단위 테스트를 위한 추가 정보로서 프리앰블, 포스트앰블, 리셋 정보등을 LTS로부터 생성하였다. 또한 LTS로부터 한 노드에서 전이 가능한 모든 경로를 트리로 표현함으로서 향상된테스트 커버리지를 갖는 서브투어를 생성하였으며 SDL을 시맨틱 모델인 STS로의변환 EH한 기존의 입력과 출력만을 고려하는 FSM에서 발생하는 비결정성 문제를 해결할 수 있다. 따라서 이 연구에서의 테스트 목적이 고려된 TTCN 표현의 테스트 케이스 생성은 적합성 시험을 위한 테스스 케이스의 실제 적용 및 프로토콜 구현의 생산성을 높일 수 있으며 테스팅 환경의 기반을 제공한다.

Keywords