VLSI Design for Automatic Magnetizing and Inspection System

자동착자 및 검사자동화 시스템을 위한 집적회로 설계

  • 임태영 (한국전자통시연구소 회로소자연구소) ;
  • 이천희 (청주대학교 전자공학과)
  • Published : 1999.07.01

Abstract

In this paper a VLSI design for the automatic magnetizing and inspection system has been presented. This is a design of a peripheral controller, which magnetizes CRTs and computer monitors and controls the automatic inspection system. We implemented a programmable peripheral interface(PPI) circuit of the control and protocol module for the magnetizer controller by using a 0.8um CMOS SOG technology of ETRI. Most of the PPI functions have been confirmed. In the conventional method, the propagation/ramp delay model was used to predict the delay of cells, but used to model on only a single cell. Later, a modified "linear delay predict model" was suggested in the LODECAP(LOgic DEsign CAPture) by adding some factors to the prior model. But this has not a full model on the delay chain. In this paper a new " delay predict equation" for the design of the timing control block in PPI system has been suggested. We have described the detail method on a design of delay chain block according to the extracted equation and applied this method to the timing control block design. And we had descriptions on the other blocks of this system.

본 논문은 TV 브라운관과 컴퓨터 모니터에 사용되는 마그네트(Magnet)에 일정한 자력을 갖도록 자화 시키는 착자기를 제어하며, 검사공정을 자동화하는 제어 시스템용의 집적회로를 설계하여 개발한 것에 관한 것으로써, 착자기의 콘트롤 모듈과 프로토콜 모듈의 주변기기 제어회로 부분을 0.8um CMOS SOG 기술로 설계하여 ETRI에서 공정하여 칩(Chip)을 완성시켜 동작을 확인하였다. 본 논문에서는 개별 셀(Single cell)의 지연 예측에 사용되었던 기존의 프로파게이션/램프 지연 모델(Propagation/ramp delay model)을 분석, 문제점을 보완 수정한 LODECAP(LOgic DEsign CAPture)의 인버터 선형 지연 모델을 응용하여 타이밍 콘트롤 블록 내의 지연 체인(Delay chain)을 설계 할 수 있는 새로운 "지연 예측 수식"을 제안하였다. 본 논문은 추출된 수식에 의거하여 타이밍 콘트롤 블록의 설계, 시스템에 적용하였으며, 나머지 블록들을 설계한 기법에 대하여도 상술하였다.여도 상술하였다.

Keywords