The study of detector condition proper to the measurement of 6MV small x-rays beam

6MV 소형 x-선 beam 측정에 적합한 검출기의 조건에 관한 연구

The purpose of this study is to measure such parameters as TMR, OAR, TSF for small beams ranging in size from 12.5mm to 40mm by diode, ionization chamber, film, TLD and to determine proper detectors for the measurement of 6MV small x-ray beams. Diode and film show good results within 2% error for the TMR measurement of the beam as small as beam with diameter 12.5mm. Diode and film have excellent spatial resolution in the OAR measurement and the comparison between two detectors shows the error within 3%. But TMR and OAR can not be measured accurately by the ionization chambers. The TSF by diode and TLD records 0.890.96 for the beams with diameter 12.5mm 40mm. The TSF determined by 0.125cc ionization chamber and markus ionization chamber for the larger beams than the beams with diameter 25mm agrees within 2% comparing with that of diode and TLD.

본 연구의 목적은 beam 지름이 12.5mm에서 40mm 까지의 소형 x-선에 대한 TMR, OAR, TSF를 전리함, 다이오드, 필름 및 TLD 등의 검출기로 측정하여 6MV 소형 x-선 beam 선량 측정에 적합한 검출기를 결정하였다. 가장 작은 beam인 지름 12.5mm beam의 TMR 값을 여러 가지 검출기로 측정한 결과 다이오드와 필름이 가장 우수하였으며 표준 TMR 값에 대한 오차 범위는 2% 이내였다. 그리고 이 다이오드와 필름은 OAR 측정 시공간 분해능이 뛰어났으며 이 두 검출기의 상대 비교에서 오차는 3% 이내였다. 이에 반해 전리함은 소형 beam의 TMR 및 OAR을 정밀하게 측정하는데 적합하지 않았다. beam 지름 12.5mm에서 40mm까지의 beam에 대한 TSF를 다이오드와 TLD로 측정한 결과 그 값은 $0.89{\sim}0.96$이었다. 그리고 beam 지름이 25mm 보다 크면 0.125cc 전리함 및 markus 전리함으로 측정한 TSF 값은 다이오드 및 TLD로 측정한 TSF 값과 잘 일치하였으며 그 오차 범위는 2% 이내였다.