유전 히스테리시스 특성 측정장치의 연구 개발

A Study on the Development of a System for Measuring Dielectric Hysteresis

  • 발행 : 1998.02.01

초록

본 연구는 컴퓨터제어 유전 히스테리시스 특성 측정장치를 개발하기 위하여 수행한 것이다. 이 측정장치는 파형 발생부, 고전압 증폭부, 측정부, 데이터 취득부 및 관련 제어회로로 구성되어 있으며 컴퓨터에 인터페이싱한 장치이다. 인가전압 및 주파수가 P.C에 의해 제어되며 측정 데이터를 P.C의 RAM에 저장할 수 있으므로 데이터의 분석 및 그래픽이 매우 편리하다. 본 장치의 정도를 시험하기 위하여 시중의 마이카 콘덴서 및 스타롤 콘덴서에 대한 정전용량을 고전압을 인가하여 측정하였으며 그 결과 정격값과 잘 일치하였다. PZT 세라믹 시료에 대한 시험에서 단일주파수의 전계를 인가함으로써 전형적인 D-E 히스테리시스 곡선을 얻을 수 있었으며, 이중주파수의 전계를 인가함으로써 $\varepsilon-E$ 및 D-E 히스테리시스 곡선을 동시에 측정할 수 있었다.

A computer-controlled system for measuring dielectric hysteresis has been developed. This system consists of the wave generation par\, the high voltage amplifier part, the measurement part, the data acquisition part and the related controll circuits and is interfaced to P.C(personal computer). The applied voltage and its frequency are controlled by P.C . Since the measured datas can be saved in the RAM of P.C, the analysis and the graphics of the datas are very convenient. As a accuracy test, the capcitances of the commercial mica and styroll capacitors were measured by applying high voltage and the results were good agreement with the rating values. In the test of PZT ceramic sample, the typical D-E hysteresis loops were obtained by applying a single frequency voltage to the sample, and $\varepsilon-E$ and D-E hysteresis loops could be measured at the same time by applying a double frequency voltage to the sample.sample.

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