SDL을 사용한 INAP 프로토콜 시험

Protocol Conformance Testing of INAP Protocol in SDL

본 논문은 형식기술기법으로 기술된 차세대지능망 응용프로토콜(INAP: Intelligent Network Application Protocool)로부터 추상시험스위트 (Abstract Test Suite) 자동생성에 대한 연구 결과를 기술한다. 시험 자동생성을 위해 RCP tour(Rural Chinese Postman tour) 개념과 UIO 시퀀스 (UIO:Unique Input Output Sequence) 개념을 응용하였다. SDL(System Description Language) 형식기술 기법으로 명세화된 INAP명세로부터 생성한 I/O FSM(Input/Output Finite State Machine)을 중간모델로 하여 UIO 시퀀스를 정의하고, 정의된 UIO 시퀀스를 RCP tour 개념과 결합하여 최적의 시험 시퀀스를 생성하였다. 본 논문에서는 또, 생성된 시험 스위트의 오류커버영역 예측방법을 제시하고, 마지막으로 표준화된 시험 표기법인 TTCN(Tree and Tabular Combined Notation)으로 생성된 시험스위트의 변환방법도 제시한다.

This paper describes a research result on automatic generation of Abstract Test Suite from INAP protocol in formal specifications by applying many existing related algorithms such as Rural Chinese Postman Tour and UIO sequence concepts. We use the I/O FSM generated from SDL specifications and a characterizing sequence concepts. We use the I/O FSM generated from SDL specifications and a characterizing sequence, called UIO sequence, is defined for the I/O FSM. The UIO sequence is combined with the concept of Rural Chinese Postman tour to obtain an optimal test sequence. It also proposes an estimation methodology of the fault courage for the Test Suite obtained by our method and their translation into the standardized test notation TTCN.